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奥林巴斯Particle Inspector——颗粒检测和分析


诸如孔隙或气孔等制造缺陷影响材料的机械性能。


颗粒检查对先进材料的研究应用是非常有用的。

奥林巴斯Particle Inspector用于解决**图像分析的需要以及典型颗粒检测和分析。 集成的对焦映射功能可提高对具有不同表面形状的先进材料的颗粒检测和测量精度。

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