涂层测厚仪使用中经常遇到的问题和解决方法

 有些刚刚接触我们仪器的用户朋友，在使用仪器的过程中总会遇到这样或那样的问题。在这里我们以涂层测厚仪为例给大家作个简要的讲解。
1.为什么仪器有时测量不准确？
   这是一个比较笼统的问题。因为就仪器不准的原因来说是多种多样的。单对涂层测厚仪来说，主要有下面几种原因引起测量不准确。
 （1）强磁场的干扰。我们曾做过一个简单实验，当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时，测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。
 （2）人为因素。这中情况经常会发生在新用户的身上。涂层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长，以免造成基体本身磁场的干扰。
  （3）在系统矫正时没有选择合适的基体。基体*小平面为7mm，*小厚度为0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。
 （4）附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须**附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统矫正时，选择的基体的表面也必须是裸露的、光滑的。
  （5）仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。

2.测量过程中，为什么有时候测量数据会出现明显偏差？
   测量过程当中由于探头放置方式不正确或者外界干扰因素的影响可能会造成测量数据明显偏大。这时可以按住CAL键把该数据**以免进入数据统计中去。

3.如何系统校准？
   校准的方法、种类，这是新用户经常会遇到的问题。系统校准、零点校准还有两点校准其实都已经在说明书上写到了，用户只需仔细阅读就可以了。需要注意的是：在校准铁基时*好是多测量几次以防止错误操作；系统校准的样片要按照从小到大的顺序进行。如果个别标准片丢失可以找与其数值相近的样片代替。

4.如何选择合适的仪器型号？
   选择什么型号的仪器*好，要根据用户测量物体的厚度来定。一般来说测量1200um以下的物体时*好选择MC-2000A型，对0~1200um的厚度来说该型号已经达到2%~3%的**度，而且对100um以下的厚度值它也能够很好的确保测量精度。如果测量物体厚度在1200~5000um，建议选择MC-2000C型测厚仪。更厚的话就要选择MC-2000D增强型测厚仪。

5.有时开机出现干扰是什么原因？
    开机后仪器屏幕出现测量状态箭头不能再次进行测量，就说明仪器受到了干扰。主要有两个原因:
  （1）开机时探头离铁基太近，因为铁基磁场的影响而受到了干扰。
  （2）没插好探头或者探头线有损伤。