模块化TLA7000系列逻辑分析仪可提供必要的速度和灵活性,帮助您捕获关于当前*快速的微处理器和存储器设计的逻辑细节信息。准确地发现复杂错误的根源,借助一目了然的大尺寸显示器和很高的数据吞吐量提供您需要的信息,并通过同一个探头提供模拟和数字信号的时间相关视图。