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涂层测厚仪的新技术

       涂层测厚仪根据测量产品的不同测量范围，用适当的测试片调值，以减少测量上的误差。 这种方法一般情况下，涂层测厚仪新购使用时还是没有什么问题的，只是比较繁琐一点。 但当探头使用一段时间后，问题就出来了。操作中我们的仪器测量精度大大减小了。 很难把握。原因在于产品的原理，这是一个致命的缺陷，即探头是使用一根磁铁绕线圈。 通上电流后产生磁场，这个磁场是不规则的。 还好，现在有一款新型的涂层测厚仪，它采用的是*新的磁感技术。也就是我们知道的 霍尔效应， 霍尔于1879年发现的。通过研究霍尔电压与工作电流的关系，测量电磁铁磁场、磁导率、研究霍尔电压与磁场的关系 , 霍尔发现这个电位差 UH与电流强度 I H 成正比，与磁感应强度 B 成正比，与薄片的厚度 d 成反比。 这个磁场是就变成规则的。该原理运用在涂层测厚仪上面就无需再调测试片了。特别是测量圆弧的或凹面的产品时，使用更为简单和方便了。
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