随着 LC/MPO 盒之类低损耗光纤组件的推广应用,损耗预算(测试限制)变得越来越小。这样一来,安装商会发现以前进行光线测试的方法和假设不再适用。
虽然电信工业协会 (TIA) 依旧允许每个连接器的衰减为 0.75 dB,但工厂抛光连接器的衰减接近 0.2 dB。因此,在测试 TIA 极限值时,安装商面对诸多的不确定性。换句话说,他们的测试实践需要合理化,而不求**。
然而,咨询人员和布线供应商现在都开始根据组件性能而不是标准**计算损耗预算。测试实践中的允许公差已不存在。为了与时俱进,安装商需要重新评估他们的光纤测试仪设备和程序。
通过舱壁接合器设置基准不再是可有可无,而必须运用一条基准测试线(1 个跳接)保持从源到仪表的基准。DSX-5000进行某些设置时,需要对新的测试设备进行投资并提供一些必要相关培训。环形通量EF的定义
测试基准线也必须配备基准等级连接器,ISO/IEC 14763-3将其定义为在多种模式下=0.1 dB,在单一模式下 =0.2 dB。当低损耗盒配备 0.15 dB LC 连接器时,若使用任何不及 0.15 dB 的 LC 连接器进行测试,结果将不容乐观或者可能失败。
当许多安装商正竞相调整和优化他们的测试程序时,在本篇文章的*后部分将介绍降低测量不确定性的方法,您可能已经听说过。它称作环形通量 (EF)。
如果两个技术人员使用带基准等级连接器及心轴的相同基准测试线,但采用两种不同的光源,那么可能会出现两种不同的读数。我们从 ISO/IEC 14763-3在测量不确定性方面所做的工作了解到,使用相同的源能够将衰减度限制在 +/- 0.09 dB 范围内。
这便是光纤测试的性质。光纤连接被认为是随机的,这是配备基准等级连接器非常重要的原因。然而,如果您当时使用两个不同的光源,即使您已经对它们做出了调整,也会出现额外的不确定性。这一不确定性是由光射入光纤的方式导致的。
很多年前,虽然有时被称为耦合效率 (CPR),TIA 还是尝试这一发射概念定义。那是一个很好的尝试,但源之间的发射依然存在太多的可变性。因此,在2010中, TIA 和 IEC 创建了 EF,以便进一步限制发射条件。环形通量EF的定义
关于那些插入标准数字的排列,您需要留意针对 EF 的 ANSI/TIA-526-14-B 或 IEC61280-4-2 (它们是相同的文档)。缺失这个标准即是如何在这一领域进行实施。很多人认为,这是属于实验室的要求,因为目前在这一领域的实施状况并不理想。
为此, TIA 正致力于解决 TIA-TSB-4979 的实际问题,以实现这一领域多模发射的条件。电信系统公告介绍了两种方法。一种是使用替代心轴的模式调节器,这种方法不太令人满意(而且成本不菲)。另外一种方法是配备剔除了多余模式设备的 EF 兼容源。环形通量EF的定义
EF 兼容似乎将成为接下来一年许多测试规范的需求,因此,安装商可能会关注这一领域的发展。