DTX-1800校准前后余量的变化。经常会有用户来电询问，我的设备工作正常，还需要校准吗？用事实说话，无论是*低端的DTX-LT设备，还是中端的DTX-1200设备以及**的DTX-1800设备，按照福禄克官方的设计，每满一年就应该恢复一下精度。
为什么这么设计呢？大家都知道，实际工作当中，电磁环境是非常复杂的，不但有照明电源、大功率的电梯、机房、电井、复印机、甚至有一些网络环境是处在高压高磁场的环境，无论是多么精密的设备，在复杂的电磁环境下工作，经年累月，一定会有数据漂移，这就是我们常说的误差。
DTX-1800校准前后余量的变化。为了比较校准究竟能不能提高设备的余量，我们特意在校准前后针对设备的每一个步骤做了同步录音录像处理。本案例中DTX-LT的校准日期为2008年07月02日；为了避免线缆接入引入其他人为的误差，我们干脆直接用校准模块进行对接测试，这样就避免了模块、RJ45插座等因素介入的误差。测试结果如下：
DTX-1800校准前后余量的变化。初步看起来，这样的结果还算不错，但是这是不是真实的余量，我们暂且不管，按照既定的程序，我们分别对主机、辅机进行了原厂的校准过程。此过程大约需要半个小时，同步数据部分、模拟部分数据恢复到出厂时候的精度，如果中间有任何一步无法满足要求，整个校准过程就会失败。所以这里面还可以有一个小的知识点，如果想了解我们手头的设备究竟能不能顺利校准通过，可以先自行设置一下基准和自校准过程，一旦失败，基本可以判定设备是无法顺利通过校准。这种情况下，意味着设备的指标已经远远超出了通过软件校准恢复的能力，属于硬件故障了，需要维修。所以这也是为什么原厂一直在建议用户满了1年就需要送校的原因，因为本来是可以通过软件校准回来，因为错过了*佳时期，随着年限的增加。指标越来越差，*终无法恢复，就好比一个癌症患者，初期的时候不积极介入**，到后期只能是判定死刑了。
言归正传，这套DTX-LT校准过程还算是相当顺利的，一气呵成，没有遇到什么其他故障。DTX-1800校准前后余量的变化。
那么在校准完之后，相应的回损指标有没有实质性的变化呢？还是用同样的模式，跳开通道模块和RJ45接口以及跳线引入的误差，我们直接用校准模块进行测试，现在的结果又会是多少呢？
DTX-1800校准前后余量的变化。两相比较，数据一目了然，RL回波损耗的余量值由5.6db一下攀升到8.1db，而在实际测试过程当中，相当大的部分原因就是由于RL值偏低，导致总体测试结果失败。而NEXT串音的失败通过重新打线或者打水晶头的模式可以得到有效的提到。不在本次案例的讨论范畴之内。
所以，如果再有人问我DTX-1800校准前后余量的变化问题，我会毫不犹豫的希望他能看到这篇文章。
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