日置直流低电阻测试仪 HIOKI 3541
日置直流低电阻测试仪 HIOKI 3541的性能:
宽量程、高分辨率、适用于系统测试的电阻计
日本日置直流低电阻测试仪 HIOKI 3541的基本参数
测量电流
20m/200mΩ, 2/20/200/2k/20k/100kΩ, 1M/10M/100MΩ,*小分辨率: 0.1μΩ,在慢挡模式下: 2/20/200/2kΩ, *小分辨率: 10μΩ
显示
20m~20kΩ时,*大显示值200000, 100k~100MΩ时,*大显示值110000, LED显示
精度
(SLOW2) ± 0.007% rdg. ±0.0015%dgt.(2k/20kΩ)在慢挡模式下: ± 0.011% rdg. ±0.01%dgt.(2~2kΩ)
DC 1A~100nA, 在慢挡模式下: DC 10m~10μA
开路端子电压
DC 5V(20/200m), 2.6V(2~20k), 13V(1M~100M),在慢挡模式下: 60mV
采样速度
快速
中速
低速 1
低速 2
50Hz
0.6ms ± 0.3ms
21ms ± 1ms
155ms ± 5ms
455ms ± 10ms
60Hz
17ms ± 1ms
149ms ± 5ms
449ms ± 10ms
应答时间(纯电阻时):上记采样时间+约1ms(根据设定内容、试料的不同,会有差异)
测量温度
(9451) -10.0°C~99.9°C(-10.0~39.9°C: ± 0.45% rdg. ± 0.8°C, 40.0~99.9°C: ± 0.45% rdg. ± 1.5°C)
温度补正功能
任何温度(9451或是温度探头),?任何材质都可进行补正电阻数值换算(补正温度范围 -10.0~99.9°C)
温度换算功能
具备因周围温度,卷线电阻值,而引起的卷线温度上升数值换算功能。
其它功能
比测仪,*大可储存装填30种设定条件,分类(BIN)测量(10分类), 统计演算, 补正偏置电压,迟延 , 平均
数子输入/输出
输出: BCD, 测量结束,比测仪结果, BIN结果, NG/开放连接器输入: 设定条件选择, 触发, 校准, 0ADJ,印刷 /C-MOS
供应电源
AC 100~240V, 50/60Hz, 30VA max.
体积于重量
215宽 × 80高 × 295厚mm, 2.6kg
附件
夹型测试线 9287× 1, 温度探头 9451× 1, 电源线× 1,保险丝× 1, EXT I/O用插入式连接器× 1
沪公网安备 31010102004802号