SP-601型方型四探针探头
SP-601型方型四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的方型四探针测试探头,专用于测量小样品的四探针探头,可用于一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
特性及规格:
1 特制之手握式探笔
2 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
3 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
4 探头使用寿命长
5 探针间距:1.59mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ
SP-601型方形四探针探头规格:
型号(Model)
曲率半径(Radius)
压力(loads)
探针间距(spacing)
探针排列(Arrangement)
SP-601
0.5mm
100g
1.59mm
方形
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