HP系列四探针探头
HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻
特性及规格:
1 特制之手握式探笔
2 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
3 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
4 探头使用寿命长
5 探针间距:1mmm、1.59mm、3.8m;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ
可选配HP系列四探针探头的型号及规格:
型号(Model)
曲率半径(Radius)
压力(loads)
探针间距(spacing)
探针排列(Arrangement)
HP-501
0.5mm
100g
3.8mm
直线
HP-502
0.75mm
HP-503
0.1mm
150g
1mm
HP-504
1.59mm
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