XX-2型方块电阻测试仪
XX-2型方块电阻测试仪是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。
特点:
1
采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定
2
以大屏幕LCD显示读数,直观清晰
3
采用单个电池供电,带电池欠压指示
4
体积≤175mmX92mm X42mm,重量≤300g
5
可配台式探头和特制之手握式探头,对应可采用台式和手握式操作,使用简易
6
带探头与被测物质接触良好指示(LED)
7
单电源开关,推拉式探头-主机接插件,操作极其简便。
技术指标:
测量范围
基本量程:方块电阻1.00-199.99(Ω/口)扩展量程:方块电阻10.0-1999.9(Ω/口)
测量不确定度
≤5%
探针规格
探针间距:3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ
恒流源
测量过程误差:≤±0.8%
电源
9V叠层电池1节
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