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HIOKI(日置)元器件测量
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产品简单介绍
日本日置HIOKI3503电容测试仪
3503电容测试仪
产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI C测试仪 MLCC叠片陶瓷电容的高速测量，低价、高效 · 定电压测量：1V(～17μF)、15mV(～170μF)、1kHz时 · 4ms（代表值）的高速测量 · 内置比较器 · 数台同时使用时，相位同步可能 · 附带同时触发输出功能 基本参数 测量参数 Cs，Cp，D(tanδ) 测量量程 C:0.940pF～14
日本日置HIOKI3501电容值测试仪
3501电容值测试仪
产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI 电容值测试仪 16当量程涵盖了从300 pF到10,000 μF的范围 · 单按键操作 · 与一般测量功能不同，它还能用DC测量电容—无偏差测量极性电容 · 两种类型连接治具可以处理所有尺寸的电容 基本参数 测量参数 满量程 测量量程 300 pF ～ 10,000 μF 测量方式 DC充电，*大应用电压4V DC 精度 ±2
日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪
3532-50
3532-50 LCR测试仪,厂商:日本日置 HIOKI,搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪,测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位**度自由调整。可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来.
日本日置HIOKI3522-50LCR测试仪
3522-50
HIOKI3522-50LCR测试仪,日本日置HIOKI品牌电桥测试仪。提供HIOKI3522-50现货。
3511-50LCR测试仪
3511-50LCR测试仪
产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI LCR测试仪 精巧，非常专业，5ms快速测量LCR · 高速测量：5ms(1kHz)或13ms(120Hz) · 高精度： ±0.08% · 内置比较器
日本日置HIOKI3535LCR测试仪120MHz
HIOKI（日置）3535LCR测试仪120MHz
产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKILCR测试仪 高速LCR仪，采样率可高至120MHz 100kHz～120MHz的宽频带 高速LCR测试（6ms/采样） 拆卸式前置放大器可选择 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
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