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镀层测厚仪

日期:2024-08-16 19:21
浏览次数:2837
摘要:

  镀层测厚仪sf8000

  镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型**仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

  性能优势

  1.精密的三维移动平台

  2.**的样品观测系统

  3.**的图像识别

  4.轻松实现深槽样品的检测

  5.四种微孔聚焦准直器,自动切换

  6.双重保护措施,实现无缝防撞

  7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度

  全自动智能控制方式,一键式操作!

  开机自动自检、复位;

  开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样;

  关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦;

  直接点击全景或局部景图像选取测试点;

  点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示结果。

  技术指标

  分析元素范围:硫(S)~铀(U)

  同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层

  检出限:可达2ppm,薄可测试0.005μm

  分析含量:一般为2ppm到99.9%

  镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)

  重复性:可达0.1%

  稳定性:可达0.1%

  SDD探测器:分辨率低至135eV

  **的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm

  样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头

  准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合

  仪器尺寸:690(W)x575(D)x660(H)mm

  样品室尺寸:520(W)x395(D)x150(H)mm

  样品台尺寸:393(W)x258(D)mm

  X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s高速度333.3mm/s

  X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um

  操作环境湿度:≤90%

  操作环境温度:15℃~30℃
 

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