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| 文件名称： | DUALSCOPE® MP0 涂层测厚仪原版技术参数 |
| 公司名称： | 北京时代山峰科技有限公司 |
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DUALSCOPE® MP0 涂层测厚仪原版技术参数涂镀层测厚仪DUALSCOPE® MP0—在铁磁性及非铁磁性金属上简便、 高精度测量涂镀层厚度的理想选择 新款DUALSCOPE®MP0采用广受认可的Fischer探头 技术，是为小巧并能大程度满足您测量需要的 仪器。它测量精度高、界面友好且结实耐用。对不 复杂工件的现场测量尤为理想。内置探头，采用磁 感应及电涡流方法，可快速无损地测量涂镀层厚 度。DUALSCOPE®MP0自动识别基材例如铁或铝并选择适 合的测量方法。可显示重要的统计参数。由于有着 出色的重复精度及统一标准的校准功能，使得这款仪 器在同级别产品中无与伦比。 袖珍仪器中的技术 DUALSCOPE®MP0有以下技术特点及优势： • 可在所有的金属（钢铁或非铁磁性金属）基材上测 量 • 仪器自动识别镀层下的基材材料并选择相应的测量 方法 • 出色的重复精度 • 受基材透磁率、电导率和几何形状（曲率和厚度 等）影响小 • 享有专利的电导率补偿技术（电涡流方法） • 足够小巧，甚至可以在比较难接触到的区域进行可 靠的测量 |
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