增益校准曲线

同时显示A扫描和S扫描的视图

EPOCH 1000i仪器具有同时显示A扫描和S扫描的标准视图。这个视图显示来自处于用户定义的起始角度和终止角度之间的每个角度的A扫描数据。可以选择被统称为聚焦法则的某个单个角度，将这个角度的A扫描实时显示在屏幕上。这样用户利用相控阵成像功能，可以同时在多个角度下探测并定性潜在的缺陷。

校准全部聚焦法则

EPOCH 1000i仪器在相控阵模式下校准增益和零位偏移时，只需一步操作，即可对全部聚焦法则进行校准。这种自动校准操作可以在所有成像的角度（聚焦法则）下捕获单个反射体的峰值波幅或声时/距离测量值。然后，仪器使用捕获的波幅或声时/距离数据对每个聚焦法则的增益和零位偏移进行调整，以为每个A扫描提供经过校准的测量值。

相控阵DAC编辑模式

用于全部聚焦法则的标准DAC/TVG

EPOCH 1000i仪器的标准配置包含用于全部聚焦法则的DAC/TVG。操作人员可以基于已知反射体，一次性为所有需要定义的角度或聚焦法则采集DAC曲线或创建TVG设置。随后，用户可以对在设置过程中采集到的单个点进行编辑，以获得准确的DAC曲线或TVG设置。设置完成以后，用户即可使用S扫描图像探测出各个聚焦法则下的潜在缺陷。

相控阵DGS/AVG模式

标准相控阵DGS/AVG

DGS/AVG缺陷定量技术是相控阵模式中的一个标准选项。这个功能使用探头ID识别码与楔块信息，建立DGS/AVG曲线特性，并将曲线应用在0°、45°、60°和70°聚焦法则上。用户使用标准EPOCH仪器的机载DGS/AVG菜单和经过修正的增益校准工具，可以快速方便地进行设置。这个选项还提供插值图像TVG，用于在特定声程范围内进行便捷的检测操作。

带有焊缝覆盖的相控阵S扫描

焊缝覆盖

焊缝覆盖功能是EPOCH 1000i仪器的标准配置，为用户在S扫描显示中提供了一个焊缝纵剖面图的视觉参考信息。这个纵剖面图可显示缺陷指示相对于焊缝几何形状的相对位置。

用户使用焊缝中线光标，可以手动定位焊缝覆盖图在S扫描中的位置。焊缝覆盖功能不仅加强了在检测过程中探出、定性、定量工件中缺陷的能力，而且提高了缺陷检测报告的质量。

多角度相控阵模式

EPOCH 1000i的多角度功能

EPOCH 1000i仪器的相控阵模式添加了一个名为"多角度"的标准功能。操作人员使用这个功能可指定扫查扇区范围内的任何3个角度或聚焦法则，作为"可见的"聚焦法则。A扫描窗口中会显示叠加在一起的来自3个指定角度的A扫描图像。这样，操作人员可以同时查看全部3个A扫描图像。为使用方便，每个单独的角度都以不同的颜色区分。对于需要使用常规定量方法在45°、60°和70°角度处进行评价的检测人员来说，这无疑是一个非常完美的功能！

带有真实深度闸门的A扫描和S扫描

真实深度闸门

在真实深度模式下，可以在S扫描中显示多个测量闸门，这样就可以在贯穿工件、间距相等的深度位置上采集测量读数，而无需考虑所选择的聚焦法则。这个功能在使用编码C扫描选项时尤其有用，因为用户利用这个功能，可以在一个单一闸门位置上采集到一个完整跳跃距离的信息。

真实深度闸门是只会出现在S扫描中的几条水平线。A扫描视图依然保持声程模式。

45°聚焦法则的AWS"D"值焊缝定级显示

AWS焊缝定级

EPOCH 1000i仪器的标准配置包含一个AWS D1.1/D1.5焊缝定级计算器。如果仪器使用符合AWS定级的Olympus相控阵探头，则可利用成像功能进行缺陷探测，同时利用常规A扫描技术定量在45°、60°和70°处的缺陷。操作人员还可在屏幕上观察任何所选A扫描（聚焦法则）的焊缝定级D值。

这个可选购软件功能将EPOCH 1000i仪器的配置提高到了16:64晶片，既可以显示线性扫描，也可以显示编码或时基C扫描。使用多含有64个晶片，大活动孔径为16个晶片的探头，可以采集线性扫描图。

沿单线扫查轴进行已编好程序的线性扫查或扇形扫查，可以采集到图像数据；这些图像数据的积累可以创建C扫描图像。探头沿扫查轴移动时需要有一个编码器跟踪探头的移动。这个编码C扫描图像收集来自两个独立测量闸门的渡越时间（TOF）数据和波幅数据。在C扫描图像的采集过程中会实时显示A扫描。C扫描中所有点的压缩A扫描图像都会被存储起来，并在显示C扫描中某个位置的S扫描或线性扫描的同时显示这个位置的A扫描图像，用于基本的图像分析。采集到扫描图像以后，可以对数据源和类型进行动态调节，可使用光标进行基本扫查定量操作。这个软件功能还具有一些附加彩色调色板，用于相控阵扫描图像。这些彩色调色板分别具有不同的颜色标度，可用于各种应用，还可被修改以满足用户的特殊需求。

请观看有关编码C扫描特性的视频。