表面阻值和相对湿度 按照ANSI/ESD S541-2003标准(ESD包装及材料标准),表面阻值率大于1011欧姆的材料属于绝缘材料。绝缘材料由于不导电,附带的静电荷可能在材料表面保持几秒钟或者更长的时间。表面阻值的降低或升高往往与相对湿度有关。材料1011欧姆阻值时的相对湿度是该材料保持静电耗散特性的临界点。用于包装静电敏感器件的材料需要有较低临界点,因为在操作或运输的过程中有可能出现干燥的空气环境。在没有静电屏蔽包装的情况下,没有泄放到大地的摩擦静电荷(由于表面摩擦所产生)可能让器件遭受静电场感应损伤。 在不同相对湿度情况下产生静电的比较。在ANSI/ESD S20.20标准中,建议环境湿度控制30—70%范围。相对湿度低于30%时,物体很容易产生静电。按照ESDA(美国静电放电协会)有关表面电阻的标准(ANSI/ESD STM11.11-2001),平面材料测量表面电阻前,须在相对湿度12% +/-3%,温度730F +/-50F(译者:原文如此)环境下预处理48小时。可以看出,吸湿性的ESD材料的表面电阻与相对湿度存在必然的联系。防潮袋(MBB)在干燥环境下(低相对湿度)仍然能够保持良好的静电耗散特性,因此被认为是有非常好的防静电特性。 使用干燥空气或氮气并装入干燥剂,去除MBB中的湿气后,袋中的相对湿度可以达到4%以下。在于处理48—72小时后,取出袋中的承载物,袋子的表面电阻测量结果可以评估该材料能否保持抗静电特性。ANSI/ESD STM11.11-2001的测量方法示意,不同材料的测试结果的例子。 ANSI/ESD STM11.11-2001标准可以用于评估晶片盒、晶片隔板、输送带、净化纸、胶片、树脂玻璃、聚碳酸酯壳、阻隔袋/屏蔽袋、洁净泡棉、聚酯盒以及其他物品的防静电特性。 ANSI/ESD STM11.13-2004 ——小物体的测量 限于篇幅,本文不能介绍所有表面电阻的方法。这里重点介绍一下针对规格大小不能使用ANSI/ESD STM11.11-2001标准中的环状电极进行测量的洁净室材料的表面电阻测量,这就是ANSI/ESD STM11.13-2004标准(测试方法标准)。防静电真空吸笔和吸盘的检测。该高分子聚合物在使用较长时间后会老化,吸盘的其表面电阻增加会变为绝缘材料。 热成型或真空成型的托盘在洁净室中非常常见,而其中许多盘的结构复杂。用于测量平面材料的环形电极无法测量诸如抽屉型的吸塑盘,因此,ANSI/ESD STM11.13-2004对于手套、托盘、真空吸盘、晶片盒、胶片和其他的小结构聚合物的测量提供了有利的支持。 职一个典型的检测结果,可以看出该托盘的检测结果是可靠的。 ANSI/ESD S7.1-2005是有关地面检测的。 ANSI/ESD S7.1-2005是非常好的地面评估方法,从点对点电阻和对地电阻(RTG)两个方面检测地面的防静电性能。导电型(长久性防静电)地板设计的电阻不超过106Ω,而一般的测量方法针对的是点对点电阻在106~109Ω的地板。一块可以防止摩擦静电的地板,在遇到人体穿着绝缘鞋的时候,其静电泄放能力可能就不够了。地面点对点和工作台面到接地点的阻值测量。 工作站人员可靠考虑——ANSI/ESD STM4.1-1997:承载电流能力 4—21mA的交流电可以使人体反射;21—40Ma可使肌肉痉挛;40—100mA可导致呼吸困难。工作站的电阻小于106Ω时,从带电器件放电模型(CDM)和交流电可靠角度看,其导电性过强。所以,所有的不锈钢推车、工作台、工作架的表面都应该铺垫洁净室专用的静电耗散台垫。 阻值靠近高值端的抗静电材料静电泄放可能太慢,阻值靠近导电端的抗静电材料有放电和可靠的风险。导电材料的表面导致ESD敏感器件受损的原因可能是静电的快速放电和静电对地泄放过快。工作台的表面电阻控制在106~109Ω,同时连接一个1MΩ的电阻接地,可确保可靠。
这些看不见的电荷有一定的能量。隐性电荷很难用静电场测量仪测量出来,它容易在中间带有导电层结构的包装材料中产生,电荷在绝缘层表面富集,但电压并不表现出来。当导体表面接触到绝缘体表面时,由接触感应带电(CCI)产生的静电可能高达数千伏,并可能导致ESD损坏。 在机器手取放晶片时,用静电场强仪测量邻近的聚酯玻璃窗口的静电场,距离1英寸的场强高达147,000V。 通过聚酯玻璃的晶片都会带电。但当窗口使用半透明的胶片时,晶片上静电吸引的微粒数量较少。 这种测量方法不能用于测量点状的静电源,该情况可以使用一种由计算机控制的非接触式测量仪器来测量场强。 非接触式的电场测试探头和仪表可以用于带电的硬盘、晶片、吸塑盘和其他物体的静电场测量。粉红色抗静电胶片感光层带电的实际测量结果。 法拉弟筒测量:ESDA ADV 11.2——1995 另外一个测量剩余电荷的方法是使用法拉弟筒,该方法的测量精度超过1nC/Pf(100V)。这个**度在半导体行业测量高分子材料足够了。 盘盒即便是在接地的情况下仍然可能带电,图10中的盘盒带电后在离子静电消除器处理后放入法拉弟筒中测量的实例。在这个实例中,盘盒充带1000V静电,然后放入法拉弟筒后接地,测量结果表明,该盘盒静电的泄放能力为<1nC/Pf。 静电衰减 这测量是测量一个带电体静电衰减到原有电压的10%时的速度。Fed 测量标准101C,4046.1号特别阐述了从+/-5000V衰减到+/-500V静电衰减时间小于2秒钟的测量方法。近来又列入从+/-1000V衰减到+/-100V的测量。这个测量可以表示出材料通过接地泄放静电的能力。但是当物体的形状复杂时测量比较困难,如缠绕的防静电泡棉、真空吸塑和少数尺寸太大不能放入测量仪器的物品。 尽管,在静电环境控制时关联性目标的测量非常有效,按照美国军标263A手册30.5部分附件H,这个测量不能适用于所有的静电现象。Fed 101C标准中的4046.1对此作了修正,使用了大探测板,可以应用硬盘驱动和半导体行业。 洁净室测量手套的照片,1000V/100V静电衰减时间小于2.0S表明合格。在硬盘驱动行业,可能建立的标准要求会更高:1000V/3V静电衰减时间小于2.0S。 ANSI/ESD STM2.1-1997 防静电工衣 按照ANSI/ ESD STM2.1-1997标准 “静电敏感器件保护——工衣”的要求,人体穿着不会富集静电的工衣是非常重要的。以下我们将阐述,按照ANSI/ESD STM11.11-2001标准,预先经过73°F +/-5° ,12% RH +/-3% RH预处理48—72小时,测量表面电阻的服装材料的特征。 点对点电阻 ANSI/ESD STM 2.1-1997标准中使用两个净重5磅电极测量布片之间的电阻和袖对袖的电阻,根据ESD STM2.1特别制作的夹子可以用于测量两个袖口之间的电阻,理想的电阻是1.0 x 106~1.0 x 109 Ω。上述的测量须在绝缘板上进行。 另一种非标准的,但在工业实际中应用的检测方法已经为一些机构所推行。这个方法就是,将一个非接触式静电电压表测量探头放进衣服内,用一个带电体靠近已经接地的工衣。衣服内的静电极小,或者没有穿透的静电场。用一个能够产生几千伏的静电枪在工衣外对静电电压表直接放电,在+5,355 V和 -7,185V时测量电压。工衣的测量电压为+15 V和-40 V。 离子化的测量ANSI/ESD STM3.1 -2000 因为极性关系,一个静电带电体靠近离子化设备时,要么会被吸引,要么会被离子中和。当离子与表面的电荷结合时即会发生中和。在实际应用中,将静电降低到几百伏足以消除对尘埃的吸附。然而,对于磁头来讲,几伏的电荷就可以导致严重的损伤后果。一种新型的离子化设备问世,它可以实时监控离子的产生,确保中和电压不超过+/-1.0V,极大降低了磁头遭受损伤的风险。如果离子化设备离子失去平衡,它将会让物体直接带电,或通过感应让其带电。 由空气中的粒子导致的ESA会让粒子因为相反电荷的吸引污染表面。这在医药、硬盘驱动、光感、光纤通讯和国防工业中都是不能接受的。 在电子行业起初采取在工作区使用导静电材料或静电耗散材料接地,同时结合使用ANSI/ESD S541-2003标准中规定的包装来达到ANSI/ESD S20.20-1999标准中的静电防护要求的目的。 而在洁净室,层流空气会产生静电场。设备中的接触分离的动作会让静电敏感组件,在放到导电的工作表面时,产生火花放电或其他形式的放电,从而受损。**别静电防护区和离子化相结合使用在ISO 2 – 4 级的洁净室中广泛应用。相反,在ISO 5 – 8级洁净室工作站中,使用离子化是为了降低绝缘体上的静电。在评估离子化设备的测量静电衰减和平衡度方面,ANSI/ESD STM3.1-2000标准是很好的一个工具。 将一个6” x 6” 大小,带20pF电量的平板放到按照九个划分好的位置固定的离子化设备的下面,测量其平衡电压和静电衰减时间。在图13中,带有反馈装置的离子化设备的平衡电压在+/-1.0 V以下。其他的离子化控制系统监测其离子平衡电压,静电衰减时间,湿度和粒子数量。 简而言之,控制静电场和静电现象是非常困难的任务,然而,运用ESD测试方法,掌握ESD材料特征,可以通过产品和材料品质限制,促使ESD/ESA防护计划的改善,同时确保其变为常规的外部审核和内审的内容。高分子聚合物是一种静电生成物,运用新的ESD包装和材料方面的文件——ANSI/ESD S541-2003,首先要注意的是不仅减少ESA,而且在ISO 1-8级洁净室中控制ESD。 其中一个必要的环节是,对供应商所标明的ESD依据和产品净化指标进行检测,通过详细的正规检验部门的检验报告或弟三方的验证让产品质量得到保证。在实际生产当中有许多这方面的实例:ESD产品和净化产品因为在购买时没有正规的质量和洁净室适用范围的技术报告,在被发现不符合要求时,而不得不停用或被取代。 (
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