产品目录

当前位置：首页 >>> 技术文章 >

技术文章

红外测温仪表面发射率的影响与对策

红外测温仪是通过检查电气设施表层红外辐射功率，来获得设施温度信息的。并且在红外测温仪接收来自目标红外辐射功率相同的情况下，因目标的表层发射率不同，将会得到不同的检查结果。也就是说，相同辐射功率，发射率越低，就会显示越高的温度。因物体表层发射率主要决定于材料性质和表层状态 ( 如表层氧化情况，涂层材料，粗糙程度及污秽状态等 ) 。因此为了化学分析仪器应用红外测温仪准确地检查电气设施温度，必须要知道受检目标的发射率值，并将该值作为计算温度的重要参数输入计算机或者调整红外测温仪的ε修正值，以便对所检查的温度输出值实行发射率修正。

上一篇：张力计详细技术分析
下一篇：电阻箱功能介绍

若网站内容侵犯到您的权益，请通过网站上的联系方式及时联系我们修改或删除