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瑞利AF-620原子荧光光谱仪通过鉴定

北京市科学技术委员会于2002年12月18日主持召开了北京瑞利分析仪器公司研制的AF-620型原子荧光光谱仪的技术鉴定会。与会专家听取了项目研制报告,并审查了鉴定文件和产品技术图纸资料,参观了样机和制造车间。经过专家鉴定委员会的充分讨论,一致认为: 1.AF-620型原子荧光光谱仪采用主机内置微机处理机、大屏幕液晶显示和触模式专用键盘,实现功能控制、信号采集和数据处理,软件功能丰富。 2.该仪器采用具有自主知识产权的五项**技术,较大幅度提高了测试精密度和分析灵敏度,其各项性能均达到或优于“原子荧光光度计通用技术条件DZ/T0183-1997”的A级标准。 3.该仪器设计合理、结构紧凑、操作简便。 4.该仪器针对市场的需求而设计,具有优异的性能价格比和推广价值。鉴定委员会认为,该仪器的性能指标达到了国际先进水平,一致通过该项成果的技术鉴定。鉴定委员会建议,尽快批量生产,满足市场需求。 鉴定委员会主任委员:凌大奎研究员,副主任委员:章诒学教授级高工,委员:蒋士强研究员、江桂斌研究员、郑永章教授级高工、姜雄平副主任药师和藏甲鹏高工。