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覆层测厚仪厚度测量的应用

覆层作为无损检测仪器的一种，它的应用已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到标准要求、优等质量的必要手段。测厚仪覆层的厚度测量已成为金属加工工业已用户进行成品质量检测必备的*重要的工序。它广泛应用于在化工、电子、电力、金属等行业中。

有关测厚仪覆层无损检测方法，主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面，系有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微处理机技术后，测厚仪向微型、智能型、多功能、高精度、实用化方面迈进了一大步。采用无损检测方法测厚仪既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，故能使大量的检测工作经济地进行。

关于测量和误差的说明如果已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差范围内；根据统计学的观点，一次读数是不可靠的。因此任何由该仪器显示的测量值都是五次“看不见”的测量的平均值。

第五次测量是在几分之一秒的时间内由探头和仪器完成的；为使测量更加**，可利用统计程序在一个点多次测量，对误差较大的测量值可在测量后立即删除。

*后覆层的厚度为： CH = M+S+δ其中：CH：覆层厚度 M：多次测量的平均值S：标准偏差 δ：仪器允许误差影响因素的有关说明基体金属磁性质磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。(a) 基体金属电性质基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

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