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薄膜测厚仪在生产生活中的重要性

     测厚在薄膜生产过程中的作用十分重要,需要要十分准确的量测薄膜厚度,需要准确度十分高。因为准确度的准确性直接关系到产品的质量问题。随着人们生活的日益提高,生活质量需要也原来越高,这就促使生产行业的质量把控要十分好,然而这些需要也对检测仪器和技术也带来无形的压力和推力。 
    目前国内的薄膜测厚现状是处于准确度不高,功能不完善的状态。我们需要学习改善的空间还很大。 

薄膜测厚的特点: 
   1、 非接触式量测,用光纤探头接收反射光,不会被破坏和污染薄膜; 
   2、 量测速度快,量测时间为秒的量级; 
   3、 可用来测薄膜厚度,也可用来量测薄膜的折射率 n 和消光吸收 k ; 
   4、 可测单层薄膜,还可测多层膜系; 
   5、 可广泛应用于各种介质,半导体,液晶等透明或半透明薄膜材质; 
   6、 软件的材质库中整合了大量材质的折射率和消光系数,可供用户参考; 
   7、 内嵌微型光纤光谱仪,结构紧凑,光纤光谱仪也可单独使用。 

     薄膜测厚现在应用十分广泛,涉及范围有薄膜厚度检测、电子显微镜微调、天文望远镜镜片微调、精密微位移量测、压电微位移。 

尊敬的客户:

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