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覆层测厚仪技术参数
覆层测厚仪是*新研发的新产品,是德国EPK/易高等同类产品的替代产品。
覆层测厚仪技术参数;
测量原理: 磁感应和电涡流
探头连接方式: 分体式导线连接(可更换)
测试量程: 0-1250um(F1、N1)探头,F10量程可到10000um
分辨率: 0.1um (F1、N1)探头
测试精度: ±[3%H+1] H为被测涂层厚度
显示方式: 高对比度液晶显示,高亮度背光
单位制: 公英制转换μm/Mil
温湿度: 0-40℃ 20%RH~90%RH
统计功能: 平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)
工作方式: 直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式: 连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
上下限设置: 有
存储能力: 495 个测量值
打印/连接计算机:选配打印机/能连接电脑USB接口
关机方式: 手动和自动
外形尺寸: 125*65*30mm
整机重量: 350g
电源: AAA(5号)电池*2节
除了以上产品外,公司同时还供应有表面涂层测厚仪、表面粗糙度仪等产品,我们公司具备有*实战的技术,专业的运营团队,为您创造以用户体验为前提的服务,服务的至善至美是我们永无止境的追求。因为以民为本,所以值得信赖;因为专业专职,所以值得选择.以上信息仅供参考,详情请致电相关工作人员为您解答。
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