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镀层测厚仪的主要优点及工作原理
一、 镀层测厚仪的 工作原理 
　　镀层测厚仪图解2镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的**次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成层测厚仪对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器，测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等(在有关国家和国际标准中称为覆层(coating))。 覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

二、镀层测厚仪是时代欧普公司*新研发的新产品，是德国EPK/易高等同类产品 OU3500镀层测厚仪(2张)的替代产品，与之前涂层测厚仪相比有以下主要优点：
　　1. 测量速度快：测量速度比其它TT系列快6倍;
　　2. 精度高 ：本公司产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上**能达到A级的产品,其精度远高于时代等国内同类.比EPK等进口产品精度也高;
　　3. 稳定性：测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品;
　　4. 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法
　　5、覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
　　6、X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

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