PIPS II 精密离子减薄仪
设备简介：
一代PIPS™离子减薄系统树立了透射电镜（TEM）制样的行业标准已超20年，而全新一代PIPS II 精密离子减薄仪基于一代PIPS 有了根本性的升级。
PIPS II 精密离子减薄仪包含了 WhisperLok®，能对减薄样品进行准确定位。10英寸触摸屏简单易用，提高对减薄区域的精度控制和减薄过程的可重复性。
配备的数码变焦显微镜系统可以实时监测减薄过程，同时可将获取的彩图存储于DM软件中，用于与样品在TEM中成像对比。
性能优点：
应用：
技术规格：
订货编号：LR-200635
