影响涂层测厚仪测量的若干因素

 影响涂层测厚仪测量的若干因素
      表层粗糙度 基体金属何覆盖层的表层粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表层会引起系统误差何偶然误差。每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未屠夫的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪表的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去基体金属覆盖层，再校对仪表的零点。
磁场周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测量厚度的工作。
附着物质 本仪表对那些妨碍探头与覆盖层表层紧密接触的附着物质敏感。因此必须**附着物质，以保证探头与覆盖层表层直接接触。
探头压力探头置于试件上施加的压力大小会影响测量的读数。因此本仪表探头用弹簧保持一个基本恒定的压力。
探头的放置探头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使探头与试样表层保持垂直。
      试件的变形 探头使软覆盖层试件变形。因此在这些试件上会测出不太可靠的数据。 读数次数 通常仪表的每次读数并不完全相同。因此必须在每一测量面积内取几个读数，覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量。表层粗糙时更应如此。
基体金属磁性 磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为时轻微的）。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与试件金属具有相同性质的铁基片对仪表进行校准。
基体金属厚度每一种仪表都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。