x射线测厚仪的原理

x射线测厚的原理

    对于X射线，在其穿透被测材料后，射线强度I的衰减规律为

    式中 I0———入射射线强度；

         μ———吸取系数；

         h———被测材料的厚度。

    当μ和I0一定时，I仅仅是板厚h的函数，所以测出I就可以知道厚度h。

    X射线测厚原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转变测量厚度的，即测量被测钢板所吸取的X射线量，根据该
X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号源转变为电信号源，经过前置放大器放大，再由专用测厚操作
系统转变为显示给人们以直观的实际厚度信号源。

    X射线源辐射强度的大小，与X射线管的发射强度和被测钢板所吸取的X射线强度相关。一个在系统量程范围内的给定厚度，
为了确定其所需的X射线能量值，可利用M215型X射线检查仪进行校准。在检查任一特殊厚度时，系统将设定X射线的能量值，
使检查能够顺利完成。