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公司新闻

测厚仪的测量头介绍
常见测量薄膜厚度的测量头有两种：平面型测量头和球面型测量头。前者可以使试样的被测区
域均匀受力，而后者易于实现上测量点与下测量面的平行，但测量面积和压强无法控制和量化。多
数机械式测厚仪选择平面型测量头，这样测试数据更具有代表性。
对于测量头和底座间的平行处理，LabthinkCHY-C1采用一套自动“找平”结构，一旦标定结
束后，用户不必再动了。当然，要保证两测量面的平行，不但要保证两测量面的清洁无污物，而且
还要尽可能的避免触碰测量头。如果私自拆卸测试装置会使设备完全失去精度。
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