合金分析技术的主要特征有:
利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试拥有好的分析精度; 采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。 利用低能X射线激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率;
采用UHRD探测器,拥有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性;