荧光X线膜厚仪ＭＨ－２００东莞市艾思荔检测仪器有限公司

荧光X线膜厚仪[产品打印页面]

简单介绍

荧光X线膜厚仪，烤箱焗炉,烤结箱,马弗炉,紫外线耐候试验,紫外线耐候试验机,氙灯耐气候试验机,紫外臭氧箱

产品描述

荧光X线膜厚仪

应用方面:

罩性金属镀层厚度测量，例如Zn；Cr； Cu； Ag； Au；Sn等合金(两样金属元素)镀层厚度测量，例如： SnPb； ZnNi；及NiP(无电浸镍)在Fe上等

合金(三檬金属元素)镀层厚度测量，例如： AuCuCd在Ni上等

双镀层厚度测量，例如：Au／Ni在Cu 上； Cr／Ni在Cu上；Au／Aq在Ni上；Sn／Cu在黄铜上等

双镀层厚度测量(其中一层是合金层)，例如： SnPb／Ni或Au／PdNi在青铜上等

三镀层，例如： Cr／Ni／Cu在塑胶或在铁上

金属成份分析， *多可以分析四种金属元素

规格:

主机--高650mm×阔570mm×深740mm；重55kg

测量箱一高300mm×阔460mm×深500mm

×DL®-B：圆形准值器一Φ0．3mm

×DLM®-C4：4倜准值器一Φ0．1 mm； ΦO，2mm；

Φ0．3mm及0．05×0．3mm

×一射线向下投射

主机上有直接测量键

可调校X一射线管高压： 30kV，40kV或50kV

彩色显示测量位置，焦距距离计算办法(DCM)*大

焦距调节为80mm

外置式电脑(Pentium或同级)及VGA彩色屏幕

可选配自动或手动的测量台

http://asli.chem17.com/

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