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公司新闻

影响涂层测厚仪测量的因素

基体金属磁性质

    磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪表运行校准;亦可用待涂覆试件运行校准。

    b基体金属电性质

    基体金属的电导率对检测有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪表运行校准。

    c基体金属厚度

    每一种仪表都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,检测就不受基体金属厚度的影响。本仪表的临界厚度值见附表1。

    d边缘效应

    本仪表对试件表层形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处运行检测是不可靠的。

    e曲率

    试件的曲率对检测有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表层上检测是不可靠的。

    f试件的变形

    测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。