x射线荧光测厚仪产品简介

日期：2024-11-11 18:58

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摘要：产品简介: 可为电镀客户提供更佳的X荧光测量方案，X射线从上向下照射样品，不同大小形状的样品更方便放置及测量。x射线荧光测厚仪的自动操作系统为用户提供方便可靠的镀层测厚、镀液分析、简单元素分析或贵金属分析方案。标准配置为20倍彩色CCD系统用于样品图象观察；XYZ三维移动样品台；单准直器及多准直器可选，样品托盘自动弹出功能，激光对焦及定位系统，二次滤光片多种可选方式及封气式正比计数器。优特完善的X荧光分析软件基于基本参数法（FP法）或校正曲线法，确保了**的测量结果。仪器易于操作，软件界面更具人性...

产品简介: 可为电镀客户提供更佳的X荧光测量方案，X射线从上向下照射样品，不同大小形状的样品更方便放置及测量。x射线荧光测厚仪的自动操作系统为用户提供方便可靠的镀层测厚、镀液分析、简单元素分析或贵金属分析方案。标准配置为20倍彩色CCD系统用于样品图象观察；XYZ三维移动样品台；单准直器及多准直器可选，样品托盘自动弹出功能，激光对焦及定位系统，二次滤光片多种可选方式及封气式正比计数器。

优特完善的X荧光分析软件基于基本参数法（FP法）或校正曲线法，确保了**的测量结果。仪器易于操作，软件界面更具人性化。

元素含量
分析指标分析范围：100PPM-99.99% 准确度：相对误差5%以内
精密度：相对标准差5%以内检出限：100PPM 测试时间镀层测厚：10-100秒
元素分析：60-300秒

X光管 50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配样品台简易手动样品台，Z轴升降调节，操作简单

探测器正比计数器测试软件基本参数法

滤光器二次滤光重量 100千克

准直器 Standard configuration: 1 collimator (Ф3mm / Ф1mm /
Ф0.5mm / Ф0.2mm /Ф0.1mm); Multi- collimators Options 软件镀层测厚软件，元素分析软件

样品观察 CCD高精度彩色摄像头配套标准液体测量杯

对焦系统镭射对焦稳压系统 UPS稳压电源

测量方向从上向下电脑联想电脑

可测元素 K到U 打印机彩色喷墨打印机

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