上海液氮制冷温度冲击测试箱，上海三箱式冷热冲击机价格设备满足以下标准 GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件 GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验B：高温 GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则 GJB 150.3A-2009 **装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB 150.4A-2009 **装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB 150.5A-2009 **装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验 GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验
温度变化的现场条件 电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍。当设备未通电时，其内部零件要比其外表面上的零件经受的温度变化慢。 下列情况下，可预见快速的温度变化： ——当设备从温暖的室内环境转移到寒冷的户外环境，或相反情况时； ——当设备遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷却时； ——安装于外部的机载设备中； ——在某些运输和贮存条件下。 通电后设备中会产生高的温度梯度，由于温度变化，元器件会经受应力，例如，在大功率的电阻器旁边，辐射会引起邻近元器件表面温度升高，而其他部分仍然是冷的。 当冷却系统通电时，人工冷却的元器件会经受快速的温度变化。在设备的制造过程中同样可引起元器件的快速温度变化。温度变化的次数和幅度以及时间间隔都是很重要的。
GJB 150.5A-2009**装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验
上海液氮制冷温度冲击测试箱，上海三箱式冷热冲击机价格
型号
TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W
TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W
TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W
TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
标称内容积（升）
80
150
200
300
试验方式
气动风门切换2温室或3温室方式
性能
高温室
预热温度范围
＋60～＋200℃
升温速率※1
＋60→＋200℃≤20分钟
低温室
预冷温度范围
－78－0℃
降温速率※1
＋20→－75℃≤80分钟
试验室
温度偏差
±2℃
温度范围
TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;
TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;
TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
温度恢复时间※2
5分钟以内
试样搁架承载能力
30kg
试样重量
7.5kg
10kg
内部尺寸（mm）
W
500
600
750
850
H
400
D
800
外形尺寸（mm）※4
1460
1560
1710
1880
1840
1940