本试验之用途在于测试电子,化学,塑料,金属,**等等,相并产品及零组件在高温,低恒快速变化所产生的反应及变化或破坏试验,结构设计为蓄热槽,测试式,蓄冷槽三部份,被测试物品静止置放于测试室内,可选择2区或是区之测试功能.