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德国EPK公司 MiniTest 1100/2100/3100/4100 涂层测厚仪

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产品名称: 德国EPK公司 MiniTest 1100/2100/3100/4100 涂层测厚仪
产品型号:
产品展商: 其它的品牌
产品价格: 0.00 元

简单介绍
德国EPK公司一直致力于开发和生产各种用于表面处理行业的精密测量仪器。作为无损涂层厚度测量领域的先驱,EPK公司与各标准化组织和研究院一道,成功地推进了涂层厚度测量在世界范围内的标准化进程。大量的**技术与成果表明EPK公司是该生产领域的佼佼者。

德国EPK公司 MiniTest 1100/2100/3100/4100 涂层测厚仪 的详细介绍


仪器特点

  MiniTest4100/3100/2100/1100用于测量以下覆层(覆层包括涂层、镀层等):

  • 钢铁基体上的非磁性覆层
  • 有色金属上的绝缘覆层
  • 绝缘基体上的有色金属覆层

技术指标

型号
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存储的数据量
 应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)
1
1
10
99
 每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算,并可设宽容度极限值)
-
1
10
98
 可用各自的日期和时间标识特性的组数
-
1
500
500
 数据总量
1
10000
10000
10000
MINITEST统计计算功能
 读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar
-
 读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
 组统计值六种x,s,n,max,min,kvar
-
 
 
 组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
 
 存储显示每一个应用行下的所有组内数据
-
 
 
 分组打印以上显示和存储的数据和统计值
-
 
 显示并打印测量值、打印的日期和时间
-
MINITEST校准方法
 通过涂层进行校准(CTC)
 
 在粗糙表面上作平均零校准
 利用PC机进行基础校准
 补偿一个常数(OFFSET)
 
 
 外设的读值传输存储功能
 
 保护并锁定校准值
 更换电池时存储读值
 设置极限值
 
 
 公英制转换
 连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别*大*小值
 
 
 连续测量模式中测量稳定后显示读数
 浮点或定点方式数据传输
 无需连接测头既可读取数值
 
 组内单值延迟显示
 
 连续测量模式中显示*小值

  电源:1 x 9 V碱性电池或外接电源
  工作环境温度:主机:050,探头:-1070,暂时工作温度可达120
  电池寿命:10000次
  主机尺寸/重量:150 mm x 82 mm x 35 mm / 270g
  适用标准:DIN50891、50982、50984、ISO2178、2360、BS5411、ASTM B 499、B244-CE ISO

 

可选探头参数:(更多详细介绍)

    所有探头都可配合任一主机使用。在选择*适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。

  • F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
  • N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
  • FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能
探头
量程
低端
分辨率
误差
*小曲率半径
(凸/凹)
*小测量
区域直径
*小基
体厚度
探头尺寸



F05
0-500um
0.1um
±(1%±0.7um)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600um
0.1um
±(1%±1um)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600um
0.1um
±(1%±1um)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F2/90
0-2000um
0.2um
±(1%±1um)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F3
0-3000um
0.2um
±(1%±1um)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5um
±(1%±10um)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10um
±(1%±10um)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10um
±(3%±50um)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm


 
FN1.6
0-1600um
0.1um
±(1%±1um)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50um
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600um
0.1um
±(1%±1um)
平面
30mm
F0.5mm/N50um
φ21x89mm
FN2
0-2000um
0.2um
±(1%±1um)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50um
φ15x62mm



N02
0-200um
0.1um
±(1%±0.5um)
1/10mm
2mm
50um
φ16x70mm
N.08Cr
0-80um
0.1um
±(1%±1um)
2.5mm
2mm
100um
φ15x62mm
N1.6
0-1600um
0.1um
±(1%±1um)
1.5/10mm
2mm
50um
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600um
0.1um
±(1%±1um)
平面/10mm
5mm
50um
φ13x13x170mm
N2
0-2000um
0.2um
±(1%±1um)
1.5/10mm
5mm
50um
φ15x62mm
N2/90
0-2000um
0.2um
±(1%±1um)
平面/10mm
5mm
50um
φ13x13x170mm
N10
0-10mm
10um
±(1%±25um)
25/100mm
50mm
50um
φ60x50mm
N20
0-20mm
10um
±(1%±50um)
25/100mm
70mm
50um
φ65x75mm
N100
0-100mm
100um
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50um
φ126x155mm
CN02
10-200um
0.2um
±(1%±1um)
平面
7mm
无限制
φ17x80mm
  • F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
  • N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
  • CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。
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