德国Fischerscope-X 射线镀层测厚仪
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产品名称:
德国Fischerscope-X 射线镀层测厚仪
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德国Fischerscope-X 射线镀层测厚仪
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简单介绍
微聚焦X-射线管高压设定可调节至*佳的应用:50KV,40KV或30KV;视准器组:圆直径为0.1/0.2;正方形0.05×0.05mm;长方形0.03×0.2mm测量箱外部尺寸:(高×宽×深)480mm×375mm×580mm,重量大约35㎏;带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)240mm×360mm×460mm,带向上回转箱门;试件查看用标准的彩色摄像机;测量开始/结束按钮,及LED状态指示灯与
德国Fischerscope-X 射线镀层测厚仪的详细介绍
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| Fischerscope X-RAY XULM-XYm (订货号603-132) 硬件 测量箱 Fischerscope X-REY XULM-XYm 是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568 的X-射线荧光测试方法; 原始射线从上至下; 微聚焦X-射线管高压设定可调节至*佳的应用:50KV,40KV或30KV; 视准器组:圆直径为0.1/0.2;正方形0.05×0.05mm;长方形0.03×0.2mm 测量箱外部尺寸:(高×宽×深)480mm×375mm×580mm,重量大约35㎏; 带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)240mm×360mm×460mm,带向上回转箱门; 试件查看用标准的彩色摄像机; 测量开始/结束按钮,及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。 控制计算机 奔腾或类似的微处理器的个人计算机FMC-XPENT带Windows?95,视频混合器板,硬盘,CD-ROM驱动器,3?英寸的软盘驱动器和鼠标。 17英寸高分辨能力的数据监视器DM1用于画中画试件查看和数据显示,在附加费用的基础上可选择19英寸监视器DM2。 XK键盘 FTM软件 适用于Windows?98或选择适用于Windows?NT的真Win32位程序带在线帮助功能。 频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用。 能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准准块组成)使应用的校准简单化 画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像:计算机生成的刻度化的瞄准十字星,并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离) 图形化的用户界面,测试件的图像显示可插入于测试报告中 测量模式用于: —单、双及三层镀层系统 —双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 —双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量) 能分析多达四种的金属成分的合金和电镀液中金属离子含量; 可编程的应用项图标,用于快速应用项选择 完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估 报告生成,数据输出 语言可选择:英语、德语、法语、意大利语、西班牙语、及中文 菜单中的某些选择可授权使用 注:基础WinFTM软件版本不允许创建新的应用,所要求的应用不得不在定货时明确。当校准标准块与仪器一起定购时,可在交货前预先创建应用。若没有定购校准标准块,则只可使用已预装的无需标准块的测量应用。 可选择的Super WinFTM软件(订货号602-950)提供了以下的附加功能: 可随意创建测量应用 可把每种测量模式的测量范围设定为想要的理论上的测量精度 快速的频谱分析以决定合金成分 (*)Fischer 公司不保证无需标准块测量情况下的测量**性
测试点大小尺寸
视准器组Ⅰ | 测试点大小 | Φ0.1mm | Ca. Φ0.16mm | Φ0.2mm | Ca. Φ0.30mm | 0.05×0.05mm | Ca. 0.10×0.10mm | 0.03×0.2mm | Ca. 0.08×0.3mm |
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