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涂层测厚仪

如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称: 涂层测厚仪
产品型号:
产品展商: 其它的品牌
产品价格: 0.00 元

简单介绍
大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯 校准选项 出厂时已校准，立即可用 在未知涂层上校准* 零校准* 在无涂层的基体上一点和多点校准* 在有涂层的基体上校准* 校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中，也可以随时调出 可选择的显示模式，以*佳形式去完成测量任务* 输入和极限监视* 在Windows下有简单的存储读数档案管理* 可用的电脑软件STATWIN

涂层测厚仪的详细介绍


涂层测厚仪
LEPTOSKOP 2042
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042具有精准的测量技术和简单的操作方法，是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码，可以使仪器在现场迅速的升级。
产品简介涂层测厚仪涂层测厚仪涂层测厚仪涂层测厚仪涂层测厚仪技术参数
涂层测厚仪
 涂层测厚仪 可定制带系统的涂层测厚
涂层测厚仪
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法（DIN EN ISO 2178）测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法（DIN EN ISO 2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。
 
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。

彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
 		 涂层测厚仪
 随机附送仪器箱
（仪器的举例）
涂层测厚仪
 涂层测厚仪 特点概述
涂层测厚仪
涂层测厚仪 
涂层测厚仪大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯
涂层测厚仪校准选项
涂层测厚仪 出厂时已校准，立即可用
涂层测厚仪 在未知涂层上校准*
涂层测厚仪 零校准*
涂层测厚仪 在无涂层的基体上一点和多点校准*
涂层测厚仪 在有涂层的基体上校准*
 
校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中，也可以随时调出
 
涂层测厚仪可选择的显示模式，以*佳形式去完成测量任务*
涂层测厚仪输入和极限监视*
涂层测厚仪在Windows下有简单的存储读数档案管理*
涂层测厚仪可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport
涂层测厚仪统计*
 
涂层测厚仪可统计评估999个读数
涂层测厚仪*小值、*大值、测量个数、标准偏差和极限监视
涂层测厚仪局部厚度和平局膜层厚度（DIN EN ISO 2808）
涂层测厚仪在线统计，所有统计值概括
LEPTOSKOP 2042 带有45°微型探头 * 取决于配置级别
涂层测厚仪
 涂层测厚仪 3种配置级别以更好的完成测量人任务
涂层测厚仪
LEPTOSKOP 2042 有3种配置级别
 
涂层测厚仪基本型 – 证明质量的基本特征
涂层测厚仪**型 - 附加统计评估
涂层测厚仪专业型 - 统计评估和数据存储
  
如果针对新的测量要求，而需要仪器增加新的功能，可以在任何时候把仪器升级为**型和/或专业型。升级只需在现场输入解锁代码，“统计”和/或“统计& 数据存储”，便可完成；而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。

这里有操作指南和制定模块的参考说明。


 		 涂层测厚仪
 通过解锁代码可以很方便的升级
（证书举例）
涂层测厚仪
 涂层测厚仪 举例：仪器上的用户界面图像
涂层测厚仪
选择菜单项目（例如：语言清单）
涂层测厚仪 
A语言清单
B卷轴条作为导航辅助
   
清晰的统计读数值和当前测量值
涂层测厚仪 
C基体
D当前测量值
E“可以测量”提示
F单位
G*小值和*大值
H标准偏离
I平均值
K测量值数量
   
电脑读数也被存储在目录和文件中
涂层测厚仪 
L显示读数的文件符号
M可自由选择的文件名
N卷轴条作为导航辅助
   
涂层测厚仪
 涂层测厚仪 多样的探头
涂层测厚仪
多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下，更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm 也是可以的。根据需求，我们也可以订做特殊探头。
 
 探头类型测量方法测量范围订货号

涂层测厚仪

标准探头Fe 0?br> 用于在宽阔的、容易测量的地方Fe0 - 3000 祄2442.100
涂层测厚仪标准探头 NFe 0?/font>NFe0 - 1000 祄2442.130
涂层测厚仪标准探头 NFe S 0?/font>NFe0 - 3750 祄2442.140
涂层测厚仪标准探头 Fe S 0?br>用于测量表面有宽阔的涂层厚度Fe0.5 - 20 mm2442.120
涂层测厚仪标准探头 Fe 90?br>用于测量难接近的部位，例如：管子的内部Fe0 - 3000 祄2442.110
涂层测厚仪双晶探头用于测量表面有宽阔的涂层例如：管子的内部涂层.Fe0.5 - 12.5 mm2442.200
涂层测厚仪微型探头0?用于测量小尺寸和难接近的部位例如：钻孔的底部FeNFe0 - 500 祄2442.300
2442.310
涂层测厚仪
涂层测厚仪微型探头 45?用于测量小尺寸和难接近的部位FeNFe0 - 500 祄2442.320
2442.330
涂层测厚仪
涂层测厚仪微型探头 90?用于测量小尺寸和难接近的部位例如：管子的内壁和钻孔FeNFe0 - 500 祄2442.340
2442.350
涂层测厚仪
注：点击单独的探头图片，可以得到更多详细信息    

涂层测厚仪
 涂层测厚仪 技术资料
涂层测厚仪
涂层测厚仪数据传输接口RS232 或　USB
涂层测厚仪电源：电池、充电电池、USB或外接电源
涂层测厚仪测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
涂层测厚仪测量速度:　每秒测量２个数值
涂层测厚仪存储: *多 9999 个数值，140个文件
涂层测厚仪误差:
涂层厚度 < 100 祄: 1 % 的数值 +/- 1 祄 (校准后)
涂层厚度 > 100 祄: 1..3 % 的数值 +/- 1 祄
涂层厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的数值 +/- 10 祄
涂层厚度　> 10000 祄: 5 % 的数值 +/- 100 祄
涂层测厚仪
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