镜片反射率测定仪
如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称:
镜片反射率测定仪
产品型号:
USPM-RUⅢ
产品展商:
其它的品牌
产品价格:
0.00 元
简单介绍
ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ是在原ＵＳＰＭ－ＲＵ仪器上开发出的换代产品，是镜片反射率测定仪的新机型。薄镜片也不受背面反射光的影响，能实现高速、高精度的分光测定。
镜片反射率测定仪的详细介绍
采用全新的ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ专用框架及设计，提高了操作性能。
受台Ｚ方向的移动范围从35mm(原产品)扩大到了85mm。
电源规格可对应AC100V以及AC220V。 (请您在下订单时注明电源规格。)
优化了软件的功能。(可显示10次测定的功能等)
XY受台移动方向增加了比例尺。
更换卤灯时不需调整灯的位置。
ＰＣ与Interface采用了ＵＳＢ式连接。
ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ是在原ＵＳＰＭ－ＲＵ仪器上开发出的换代产品，是镜片反射率测定仪的新机型。薄镜片也不受背面反射光的影响，能实现高速、高精度的分光测定。
主要用途
各种透镜（眼镜透镜、光读取头镜片等）
反射镜、棱镜以及其他镀膜部品等的分光反射率、膜厚测定（单层膜）
消除背面反射光
采用特殊光学系，消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。
可测定微小领域的反射率
用对物镜对焦于被测面的微小区域(φ60μm)，可测定镜片曲面及镀膜层脱落。
测定时间短
使用Flat Field Grating(平面光栅)和线传感器的高速分光测定，可迅速实现再现性很高的测定。
ＸＹ色度图、L*a*b*测定可能
以分光测定法为基准，从分光反射率情况可测定物体颜色。
Hard Coat(高强度镀膜)膜厚测定可能
用干涉光分光法，可以不接触、不破坏地测定被测物的膜厚(单层膜)。
测定波长 | 380nm～780nm |
测定方法 | 与参照试料的比较测定 |
被测物N.A. | 0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时) ※与对物镜的N.A不同 |
被测物W.D. | 10.1mm(使用10×对物镜时) 3.1mm(使用20×对物镜时) |
被测物的曲率半径 | -1R～-∞、+1R～∞ |
被测物的测定范围 | 约φ60μm(使用10×对物镜时) 约φ30μm(使用20×对物镜时) |
被测物再现性 | ±0.1%以下(2σ)（380nm～410nm测定时） ±0.01%以下(2σ)(410nm～700nm测定时) |
表示精度 | 1nm |
测定时间 | 数秒～十数秒(因取样时间各异） |
光源规格 | 卤灯 12V100W |
装置重量 | 本体：约20kg(电脑、打印机除外) 光源用电源：约3kg、控制器：约8kg |
装置尺寸 | 本体：300(W)×550(D)×570(H)mm 光源用电源：150(W)×250(D)×140(H)mm 控制器盒：220(W)×250(D)×140(H)mm |
电源规格 | 光源用电源：100V (2.8A)/220V AC 控制器盒：100V(0.2A)/220V AC |
使用环境 | 水平且无振动的场所 温度：23±5℃ 湿度：60％以下、无结露 |
软件 | ■测定参数设定 ■分光反射率测定 设定参考值(固定值、分散式、可选择文档数据) 取样时间设定 判定是否合格 波长方向刻度
■物体颜色测定 ＸＹ色度图、L*a*b*色度图 标准光源设定(A、B、C、D65) 视野设定(2°视野、10°视野)
■膜厚(单层膜)测定 |
*作为特别订货，可对应测定波长为440nm～840nm。 |
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