铜箔膜厚仪CMI95M

铜箔膜厚仪CMI95M

深圳市方源仪器有限公司提供的铜箔膜厚仪CMI95M是一款为测试铜箔厚度设计的电池供电的手持式测厚仪，它能够在一秒钟之内测量印刷电路板上的铜箔厚度，范围从1 /8到4.0盎司/平方英尺(5-140微米)。

铜箔膜厚仪CMI95M规格参数：

产品名称：铜箔膜厚仪

订货型号：CMI95M

测试范围：Oz/Ft2 1/8 1/4 3/8 1/2 1    2    3     4 

          μm 5  9 12  17 35 70 105 140

产品品牌：英国牛津仪器Oxford

电源：9伏

重量：125g

尺寸：(W)66 mm*(D)(32 mm)* (H)(104 mm)

铜箔膜厚仪CMI95M优势：

1、避免高昂的回收再生的成本-快速**地鉴定特定铜箔厚度；

2、一款行业认可的坚固易用且价格合理的手持式测厚仪，通过厚度测量分拣铜箔薄片；

3、非破坏性检测一新型95M配有超软接触式探针，避免铜箔表面刮伤；

4、经久耐用，操作简单；

5、出厂前校准无需标准片；

6、低电量提醒；

7、CE认证；

铜箔膜厚仪CMI95M使用方法：

CMI95M由工厂调校，不需要任何标准片。它使用方便，只需将产品独有的软探针放到铜箔的表面就可以看到关于铜箔厚度的指示。

中国代理商：深圳市方源仪器有限公司

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