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产品资料

牛津CMI165面铜膜厚仪铜厚测量仪

牛津CMI165面铜膜厚仪铜厚测量仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:牛津CMI165面铜膜厚仪铜厚测量仪
  • 产品型号:CMI165
  • 产品展商:英国牛津仪器(Oxford)
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
牛津CMI165面铜膜厚仪铜厚测量仪是一款测量**简易与质量可靠的手持式镀层测厚仪,该仪器人性化的设计、坚固耐用的世界首款带温度补偿功能,牛津CMI165面铜膜厚仪铜厚测量仪以确保测量结果**而不受铜箔温度的影响,仪器配有探针防护罩,确保探针的耐用性;配备探头照明方便测量时准确定位。该仪器由深圳市方源仪器有限公司总代理。
产品描述

牛津CMI165面铜膜厚仪铜厚测量仪

 

牛津CMI165面铜膜厚仪铜厚测量仪是一款测量**简易与质量可靠的手持式镀层测厚仪,该仪器人性化的设计、坚固耐用的世界首款带温度补偿功能,牛津CMI165面铜膜厚仪铜厚测量仪以确保测量结果**而不受铜箔温度的影响,仪器配有探针防护罩,确保探针的耐用性;配备探头照明方便测量时准确定位。该仪器由深圳市方源仪器有限公司总代理。

 

 

牛津CMI165面铜膜厚仪铜厚测量仪测试原理:

利用微电阻原理通过四针式探头进行铜厚测量,符合EN 14571测试标准

牛津CMI165面铜膜厚仪铜厚测量仪探头简介:

一直以来,面铜测量的结果往往受到样品温度的影,牛津仪器工业分析部研发的SRP-T1探头,综合运用微电阻原理及温度补偿技术,使其成为世界上头个推出带温度补偿功能的铜箔测厚仪的制造商。确保测量结果**而不受铜箔温度的影响。这款多用途的手持式测厚仪配有探针防护罩,确保探针的耐用性,即使在恶劣的使用条件下也可以照常进行检测。

牛津CMI165面铜膜厚仪铜厚测量仪仪器特性:

可测试高温的PCB铜箔

显示单位可为mils,μm或oz

可用于铜箔的来料检验

可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试

可用于电镀铜后的面铜厚度测试

配有SRP-T1,带有温度补偿功能的面铜测试头

可用于蚀刻后线路上的面铜厚度测试

用户可自行选择自动、连续、手动测量模式

SRP-1探针保护罩,照明功能便于测量时准确定位

SRP-1可由客户自行替换,替换后无需校准即可使用

仪器内存容量大,可储存9690条检测结果

 

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中国代理商:深圳市方源仪器有限公司

地址:深圳市南山区登良路62号南园综合楼5楼             地址:上海市闵行区申滨路1051弄140号1101室

电话:  86372601  86372660      电话:  54888372  

传真:      E-mail: fyyq@vip.163.com         传真:         E-mail: fyyq@vip.163.com 

 

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