北京高低温环境试验箱标准GB/T 242322 GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验N: 温度变化
23 GB/T 2423.23-1995 电工电子产品环境试验 试验Q:密封
24 GB/T 2423.24-1995 电工电子产品环境试验 **部分: 试验方法 试验Sa: 模拟地面上的太阳辐射
25 GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AM: 低温/低气压综合试验
26 GB/T 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/BM: 高温/低气压综合试验
27 GB/T 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AMD:低温/ 低气压 /湿热连续综合试验方法
28 GB/T 2423.28-1982 电工电子产品基本环境试验规程 试验T:锡焊试验方法
29 GB/T 2423.29-1999 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验U:引出端及整体安装件强度
30 GB/T 2423.30-1999 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验XA和导则:在清洗剂中浸渍
31 GB/T 2423.31-1985 电工电子产品基本环境试验规程 倾斜和摇摆试验方法
32 GB/T 2423.32-1985 电工电子产品基本环境试