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影响涂层测厚仪测量值精度的各种因素？

发布时间：2013-11-11

1、基质金属磁特性
磁法厚度受基体金属磁性变化(实际上,低碳钢磁可以被认为是一个细微的变化,为了避免影响热处理、冷加工的因素,应使用金属试样基体具有相同性质的标准的涂层厚度量测仪校准;
也可以用于涂层试件校准。
2、基本金属的厚度
每一种仪器有一个临界厚度的贱金属。大于厚度量测不受厚度的贱金属。
3、贱金属电气性能
对…有影响的导电性基体金属和贱金属的电导率有关,其材料组成和热处理。使用金属试样基体具有相同性质的标准仪器校准。
4、边缘效应,
涂层测厚仪灵敏度来突然改变的标本的表层形状。所以靠近试样在边缘或角落措施是不可靠的。
5、曲率
标本的曲率量测。这种影响是总是随着曲率半径减小显著增加。结果,弯曲试样表层的量测是不可靠的。
6、变形的试样
量测头可以使软涂层试样变形,因此可靠的量测数据在标本。
7、表层粗糙度
基质金属和表层粗糙度量测的涂层。粗糙度增加,效果增加。粗糙表层会引起系统误差和随机误差,每次量测,应该增加数量的量测在不同的位置,克服随机误差。
如果矩阵金属粗糙,还必须相似矩阵没有涂层粗糙的金属样品需要几个零位校准的涂层测厚仪;或者没有腐蚀到金属基体溶液去除盖,校对零再次。
8、磁场
在各种各样的强磁场产生的电气设备,会严重干扰磁法的厚度。
9、胶粘材料
该仪器到妨碍测头与密切接触表层的涂层附着力的材料,因此,必须转移到材料,确保仪器量测头和被直接接触表层的测试。
10、量测头的压力
压力强加的探针在样品尺寸会影响量测的读数,因此,保持压力恒定。
11、量测头取向
有一个影响量测探头布置方式。在量测中,应保持垂直探针与样品表层。

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