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无损检测之常规涂层测厚仪的原理

发布时间：2013-11-19

无损检查原理的传统涂层测厚仪对材料表面保护和装饰涂层的形成,如涂料、涂料、涂料、粘层、化学膜等,相关国家和国际标准称为包层(涂料)。
涂层厚度量测已成为加工工业、表面工程的一个重要组成部分,是至关重要的质量检查手段,产品达到上等标准。使产品国际化,我国出口商品和外国项目,有一个明确的要求涂膜厚度。
涂层厚度量测方案主要包括:楔形掏槽法、光断面法、电解方案,厚度差量测法和称重法、x射线荧光、β反向散射方案,电容法,磁法和涡流量测方案等。这些方案前五名的是损伤检查、量测手段繁琐,速度慢,更适合抽样检验。X射线和β射线法是无损量测没有接触,但复杂的,昂贵的,小的量测范围。由于放射性源,用户必须遵守辐射防护规定。X射线法可以量测极薄的涂层,双电镀、合金电镀。β射线法适用于涂膜和衬底原子序数大于3的量测。的绝缘电容方案只在薄薄的导电涂层厚度时使用。
随着科技的日益进步,特别是在引入计算机技术在近年来,随着磁法和电涡流测厚仪的方案对小、智能化、多功能、高精密,一步一实用的方向。量测分辨率已达0.1微米,精度可以达到1%有明显改善。它的适用范围广,范围广泛,操作简单,价格低廉,是应用*广泛的工业和科学研究厚度仪器。
非破坏性方案既不破坏包层或破坏基材、快速检查,可以使大量的测试工作在经济上。

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