FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量细小零部件上的镀层厚度和成分分析。
为了使每次测量都能在优的条件下进行，XULM配备了可电动调整的多种准直器及基本滤片。
比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可测量的元素范围从氯（17）到铀（92）。
XULM型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。
本款仪器特别适合用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
典型的应用领域有：
微小零部件、接插件和线材上镀层厚度的测量
印制线路板上手动测量
珠宝手表业中的镀层厚度测量及成分分析
x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYm设计理念
FISCHERSCOPE X-RAY XULM设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根据使用用途，有以下两种不同版本型号，分别对应不同样品平台：
XULM： 固定平面平台
XULM XYm： 手动X/Y平台
高分辨的彩色摄像头配以强大的放大功能，可以定位测量位置。
尽管仪器本身结构紧凑，但是由于XULM光谱仪配备了宽敞的测量室，从而可以测量更大体积的样品。
外罩底部留下了空隙，可方便地测量超出测量室大小的大尺寸扁平样品，如大面积的印制线路板等。
通过强大且界面友好的WinFTM®软件，可以在电脑上便捷地完成整个测量过程，包括测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。
XULM型光谱仪是型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防护措施的测量仪器。
x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYm通用规范
用途
能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) 用于测量镀层厚度和材料分析
可测量元素范围
从氯（17）到铀（92），如使用选配的WinFTM® BASIC，可多同时测量24种元素
设计理念
台式仪器，测量门向上开启
测量方向
由下往上
x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYmX射线源
X射线靶材
带铍窗口的钨靶微聚焦射线管
高压
三种可调高压：30 kV，40 kV，50 kV
孔径（准直器）
4个可切换准直器：
标准型(523-440)：圆形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.05 x 0.05mm；0.2 x 0.03mm
可选 (523-366)：圆形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；Ø 0.3 mm；矩形0.3 x 0.05 mm
可选 (524-061)：圆形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.3 x 0.05 mm；0.05 x 0.05mm
可按要求定制其它规格
基本滤片
3种可切换的基本滤片（标准型：镍，无，铝）
测量点大小
取决于测量距离和使用的准直器的大小，视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸，使用矩形0.05 x 0.05mm准直器，小的测量点面积约为Ø 0.1 mm。
测量距离，如样品为腔体时
使用保护的DCM（测量距离补偿法）功能：
测量距离为0 ~ 20 mm时，为已校准范围；
测量距离为20 ~ 27.5 mm，为非校准范围。
x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYmX射线探测器
X射线接收器
比例接收器
二次滤波器
可选：钴滤波器或镍滤波器
x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYm样品定位
视频显微镜
高分辨 CCD彩色摄像头，可用来观察测量位置 十字线刻度和测量点大小经过校准
测量区域的LED照明亮度可调节
放大倍数
38 x ~184x (光学变焦: 38x ~ 46x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
样品台
XULM
XULM XYm
设计
固定样品平台
手动XY平台
X/Y方向大可移动范围
-
50 x 50 mm
样品放置可用区域
250 x 280mm
样品大重量
2kg
样品高度
240mm
X射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYm电气参数
电压，频率
AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
功率
大为 120 W (测量头重量，不包括计算机)
保护等级
IP40
仪器规格
外部尺寸
宽x深x高[mm]：395 x 580 x 510
重量
约45 kg
内部测量舱尺寸
宽x深x高[mm]：360 x 380 x 240
环境要求
测量时温度
10°C – 40°C / 50°F – 104°F
存储或运输时温度
0°C – 50°C / 32°F – 122°F
空气相对湿度
≤ 95 %，无结露
计算系统
计算机
带扩展卡的Windows®个人计算机系统
软件
标准配置：Fischer WinFTM® LIGHT
可选配置：Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER
执行标准
CE合格标准
EN 61010
X射线标准
DIN ISO 3497和 ASTM B 568
型式许可
型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防护措施的测量仪器。
x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYm如有特殊要求，可与Fischer磋商，定制特殊的XULM型号。
涂装 相关仪器：涂层测厚仪，漆膜硬度测试仪，电解膜厚仪，黏度计/粘度计，X射线测厚仪，附着力测试仪，微型光泽仪，分光色差仪，雾影仪，反射率测定仪，光谱仪，涂膜干燥时间记录仪，标准光源箱
苏公网安备 32050502000403号
