LCR测试

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苏州兴源电子有限公司
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	日置HIOKI LCR电桥IM3536	日置HIOKI LCR电桥IM3536 LCR测试仪IM3536 DC，4Hz~8MHz测量频�� ● 测量频率DC，4Hz~8MHz ● 测量时间：*快1ms ● 基本精度：±0.05% rdg ● 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量 ● 可内部发生DC偏压测量 ● 从研发到生产线活跃在各种领域中
	HIOKI 日置3506-10 C测试仪	HIOKI 日置3506-10 C测试仪模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量,提高了抗干扰性在产线的上也能实现高反复精度. HIOKI 日置3506-10 C测试仪 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量根据BIN的测定区分容量
	HIOKI 日置IM3533-01LCR测试仪	HIOKI 日置IM3533-01LCR测试仪,基本精度±0.05％，测量范围广泛(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)。HIOKI 日置IM3533-01LCR测试仪,2毫秒的快速测试时间
	HIOKI日置 IM7580阻抗分析仪	HIOKI日置 IM7580阻抗分析仪 HIOKI日置 IM7580阻抗分析仪测量频率1MHz~300MHz 测量时间：*快0.5ms 基本精度±0.72%rdg. HIOKI日置IM7580阻抗分析仪紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
	HIOKI日置LCR测试仪IM3536	HIOKI日置LCR测试仪IM3536 DC，4Hz~8MHz测量频率，今后的标杆产品 HIOKI日置LCR测试仪IM3536 测量频率DC，4Hz~8MHz 测量时间：*快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量可内部发生DC偏压测量从研发到生产线活跃在各种领域中
	HIOKI日置LCR测试仪3522-50	HIOKI日置LCR测试仪3522-50 低价及更好的功用和性能 DC, 1 mHz～100 kHz更宽范围的测量频率 5ms高速测量的LCR计宽频量程(DC或1mHz~100kHz) 测量14种参数(高分辨率和高精度) DC电阻测量 HIOKI日置LCR测试仪3522-50

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