高温反偏试验箱老化系统适用于各种封装的二极管、三极管、MOSFET、桥堆、三端稳压器件和可控硅等分立器件进行高温反偏、高温栅偏的电耐久性试验（HTGB/HTRB）、高温漏电流测试（HTIR）和老化筛选。高温反偏试验箱|高温反偏老化系统全程监测每个试验器件的试验参数，并且绘制出全程 HTGB、HTRB、 HTIR 试验参数曲线，数据可转换成 Excel 表格供用户保存和分析。选用进口品牌高温潮湿环境试验箱，试验过程中无结露滴水现象，确保试验顺利进行；我们公司特制的连接器保证了试验的可靠性和系统超长的使用寿命，不仅有效降低使用成本还大大提高了系统的使用效率；配置灵活方便，可以根据实际的使用要求决定是否选装电脑检测系统；系统配套的老化板种类非常齐全,每块老化板都经过特殊的防潮湿处理，使用寿命达到国际优越水平；
高温反偏试验箱老化系统适用范围：
适用于各种封装形式的二极管、三极管、场效应管、可控硅、IGBT等器件进行高温反偏试验(HTRB)和高温漏流测试试验（HTIR）。
高温反偏试验箱|高温反偏老化系统主要技术指标和性能：
型 号
高温反偏试验箱|高温反偏老化系统型号ES-SP216；
符 合 标 准
MIL、GJB、JEDEC、GB；
试 验 条 件
85%RH，85℃（典型）；
适 用 范 围
适用于各种半导体器件进行高温高湿反偏试验（H3TRB）；
试 验 容 量
16 区×80位/区=1280位；
老化电源配置
标准配置4 路，*多可配置16 路；
老化电源规格
50V/5A 100V/3A 200V/2A 300V/1A 300V/2A 可根据需要任意选择；
电源切换装置 （选装件）
电源和老化板之间可以自由切换；
驱 动 检测板
数量：16块（可以根据实际使用要求减少配置）； 功能：监测和记录每个被试器件的漏电流参数；
器件保护方式
保护电阻/快速熔断保险丝；
试验状态监测
每区提供80 个测试接口，电脑实时监测各器件的漏电流；
老 化 测试板
采用耐175℃高温的H3TRB 专用高绝缘底板，表面经过专门的防潮湿处理，85%RH， 85℃条件下使用寿命可达两年以上（每次试验结束后要及时清洗，祛除表面污垢）； H3TRB 可以兼容HTRB 试验；
老 化 测试座
采用耐175℃，100%湿度的高温老化测试座；
老 化 板支架
304 不锈钢材料；
系统外形尺寸
W120cm×D130 cm×H190cm；
系统供电要求
输入380V 50HZ, 三相； *大功率：10kw；
系 统 总重量
约600Kg
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