EC-770X大量程涂层测厚仪
一、图片
二、产品特色
率先采用双核处理架构，32位ARM处理器，显著提升运算效率；
采用128*128高分辨率点阵液晶；
高可达10000微米超宽测量范围；
高可达1%超高精度；
大点阵液晶屏，标准化菜单操作；
超限红色背光报警；
屏幕旋转倒置功能；
两种测量模式：单次（Single)和连续(Continuous)；
两种组模式：直接组(DIR)和通用组(GEN),一个直接组和四个通用组，每组可存储500个数据；一共2000个数据。
可零校准，拥有全自动校准算法，省去人工反复校准；
用户可随时查看当前工作组已测得的数据，并删除指定数据或整组数据；
实时显示当前工作组统计值：平均值(Mean),小值(Min)，大值(Max),标准方差(Sdev)；
三种探头模式: 自动(Auto)、磁感应(Magnetic)和涡流(Eddy Current)；
可为各组单独设置高低限报警值，超限时屏幕指示报警；
可开启或关闭自动关机功能；
USB接口可传输通用组数据到计算机；
低电和错误提示；
适合恶劣条件使用；
三、应用场景
本仪器能无损伤、快速、精密地进行涂、镀层厚度的测量。它能广泛应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，是材料表面处理工程必备的仪器。它可以稳定地工作于实验室、车间现场和户外。
四、产品描述
EC-770X涂层测厚仪，能同时测量磁性基材表面（如钢、铁等）的非磁性涂镀层（如油漆、陶瓷、铬等），以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层（如油漆等）。本仪表内置高精密双探头，利用电磁感应和涡流效应，全自动探测基材属性，计算涂镀层厚度，并通过点阵液晶快速显示结果。同时，测量数据可分组保存，并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准。全新的零校准，让您非常方便的随时进行校准。标准化菜单，确保您非常容易的使用它。
五、技术指标
1. 测量原理：磁感应（F探头）；涡流效应（N探头）；
2. 测量范围：F:0~5000um；N:3000um
3. 测量精度（典型值）：± (读数的2%+1um)；
4. 分辨率：0um~99um(0.1um), 100um~999um (1um), 1000um~1300um (0.01mm)；
5. 校准：零点校准;
6. 数据存储与分组：一个直接组（数据不保存）和四个通用组（数据可被保存），每组有单独的统计，报警上下限设置和校准设置；
7. 统计值：支持平均值、小值、大值和标准方差；
8. 支持单位：um, mm, mils；
9. 报警：用户可设置上下报警限，当发生报警时，液晶屏幕可显示提示；
10. 小曲率半径：凸5mm，凹F:15mm,N:75mm;
11. 小测量面积：直径探头F:6mm；直径探头N:6mm;
12. 小基材厚度：0.2mm（F探头）；0.03mm（N探头）；
13. 电脑接口：可通过USB口连接计算机下载数据；
14. 电源：两节1.5V AAA电池；
15. 操作温度：-10~50℃；
16. 保存温度：-10℃ to 60℃；
17. 尺寸：113mm*53mm*24mm；
18. 重量：80g；
六、型号对比
型号
EC-770X
EC-770FX
EC-770NX
探头
磁感应（F）
涡流效应（N）
其他指标
测量原理：磁感应（F探头）；涡流效应（N探头）；
测量范围：F:0~5000um；N:3000um；
测量精度：± (读数的2%+1um)；
分辨率：0um~99um(0.1um), 100um~999um (1um), 1000um~1300um (0.01mm)；
校准：零点校准；
数据存储与分组：一个直接组（数据不保存）和四个通用 组（数据可被保存），每组有单独的统计，报警上下限设置和校准设置；
统计值：支持平均值、 小值、大值和标准方差；
支持单位：um, mm, mils；
报警：用户可设置上下报警限，当发生报警时，液晶屏幕可显示提示；
小曲率半径：凸5mm，凹F:15mm,N:75mm;
小测量面积：直径探头F:6mm；直径探头N:6mm;
小基材厚度：0.2mm（F探头）；0.03mm（N探头）；
电脑接口：可通过USB口连接计算机下载数据；
电源：两节1.5V AAA电池；
操作温度：-10~50℃；
保存温度：-10℃ to 60℃；
尺寸：113mm*53mm*24mm；
重量：80g