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变频抗干扰介质损耗测试仪工作原理及日常维护

发布时间:2019-11-06

变频抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。它淘汰了QSI高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压,抗干扰能力强, 测试时间短等优点,是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。

测量线路包括一路标准回路和一路测试回路,如图三所示。

标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并算出被测试品电容容值(CX)和介质损耗(tgδ)。

数据采集电路全部采用高压稳定器件,采集板和采集计算机被铁盒完全浮空屏蔽,仪器外壳接地屏蔽;另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,使测量结果稳定、、可靠。

仪器高压器的高压侧和测量线路都是浮地的,用户可根据不同的测量对象和测量需要,灵活地采用多种接地方式。如采用“正接线法"进行测量时,可将“E"点接地;而当采用“反接法"进行测量时,可将“UH"点接地,而将E点浮空

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