日本NOISEKEN模拟试验器FNS-B50B

日本NOISEKEN模拟试验器FNS-B50B

ESS-801/ESS-801GL试验环境

在符合EN/IEC61000-4-2标准的静电试验环境下，

通过使用台式和落地式2种试验器具，以扩大所支持的试验环境。

试验用桌子因为是木制的，对试验的影响较小（高频电磁场可以

毫无损失地施加到受试设备上，所以具有良好的定量性。 ）

因此可以进行重复性较高的试验。与此同时，具有多种用途，

可以用于电快速瞬变脉冲群试验和高频噪声等试验当中。

● 符合EN/IEC61000-4-2标准的静电试验环境

● 可以进行重复性较高的试验

● 具有多种用途，可以用于其他试验当中

ESS-801 （台式）

项目… 型号… 尺寸… 数量

试验桌… 03-00039A… (W)…1600x(H)800x…(D)…800mm… 1个

垂直耦合板… 03-00005A… (W)…500x(H)500x…(t)…1.5mm… 1块

参考接地板… 03-00007A… (W)…1800x(D)1000x…(t)…1.5mm… 3块

绝缘衬垫… 03-00004A… (W)…1450x(D)650x…(t)…0.5mm… 1张

放电电阻电缆… 05-00054B… 含470kΩ×2个 2m… 2根

水平耦合板… 03-00020A… (W)…1600x(D)800x…(t)…1.5mm… 1块

ESS-801GL （落地式）

项目… 型号… 尺寸… 数量

绝缘支座… 03-00024A… (W)…1200x(H)1200x…(t)…100mm… 1个

落地式垂直耦合���… 03-00034A… (W)…540x(H)1540x…(D)…500mm… 1块

参考接地板… 03-00007A… (W)…1800x(H)1000x…(t)…1.5mm… 3块

放电电阻电缆… 05-00054B… 含470kΩ×2个 2m… 1根

选件：

放电电阻……… MODEL : 详细如下所示

该产品为放电仪…TC-815R等所使用的放电电阻。

通过更换放电电阻，能够改变静电试验输出波形。

（非IEC标准产品）

该产品为放电仪…TC-815R等所使用的电容组件。

通过改变电容组件，可以改变静电试验输出波形。

日本NOISEKEN模拟试验器FNS-B50B

 ZAP-1A自动放电系统

实现静电放电的自动化、定量化。

● 通过静电放电部位的上下移动，能以任意速度进行定量放电。

● 由于试验条件的设定?放电已实现自动化，可以专注于试验　品的动作。

● 采用适应任意放置场所的省空间设计。

● 能简单地编程设定试验条件，同时实现消除静电自动化。

● 可根据客户产品的要求进行定制。

*…无法和ESS-2002和ESS-2002EX组合在一起使用

ESS-2000AX

*…系统的具体构成，请咨询各营业所

项目… … 规格／性能

尺寸 ／重量… 移动量… （W） 300× （H） 440× （D） 400mm （不包括突起） ／约12kg

Z轴… 分辨率… 10～50mm （配合结束位置…*大50mm）

… 设定值… 1mm单位

放电结束位置… 分辨率… 0～40mm （配合移动量…*大50mm）

… 设定值… 1mm单位

移动速度… … 1～10mm/s

 IEC61000-4-2Ed.2试验标准概要