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- 产品名称：同惠TH2825A型高速LCR数字电桥，50Hz－100kHz, 10个典型测试频率 ，10mVrms—1.0Vrms可编程测试电平
- 产品型号：TH2825A
- 产品展商：常州同惠/tonghui
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- 发布时间：2018-07-07
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简单介绍
超高速测量：15ms(测试频率≥100Hz时)
■ 大型LCD(240×64点阵)显示
■ 人性化引导式操作界面
■ 50Hz－100kHz, 10个典型测试频率
■ 10mVrms—1.0Vrms可编程测试电平
■ 内部DC偏流源*大可达200mA（使用25Ω内阻）
■ **的负载校准功能
■ 4种可选源阻抗模式，便于兼容不同LCR表的测试一致性
■ 4点频率/电平/偏流列表扫描功能
■ 变压器参数测量能力
■ 12组内部仪器设定储存
■ 内建9档比较器，分选及档计数
■ 具有良品/**品（Hi/Go/Low）警示声响判定功能
■ 测试电平V/I监视功能
■ 与Agilent 4263B兼容的Handler接口
■ 与Agilent4263B兼容的IEEE-488控制命令
产品描述
TH2825A型高速LCR数字电桥是本公司重点推出的新一代元件参数测试仪器。该产品可提供高达15ms/次的测量速度、50Hz100kHz十点测试频率、以1mV步进的0.01V-1.0V可编程信号电平、5位读数分辨率、多种源内阻选择和强大的测试功能,可满足生产线质量保证、进货检验及元件设计和评估的测量要求。
高速测量
■本产品运用了元件测试领域的*新技术，测试能力可达到甚至超越Agilent4363B的水平，提供了****的*高测量速度15ms/次，尤其是解决了长期困扰测试部门低频测试速度慢的难题，为低频元件如电解电容器、变压器的高速测试提供了解决方案。
多种可选的信号源阻抗模式
■不同LCR表由于输出阻抗的不同可能得到不同的测试结果，TH2825A提供五种可选的阻抗模式以适应不同的需要，保证不同仪表间测试结果的一致性。
恒电平模式适用于多层陶瓷电容器(MLCC)的测量
■陶瓷电容器（MLCC）对测试信号电平极为敏感，TH2825A能以恒定的高电平测试信号高速测量大容量陶瓷电容器，允许在恒定1kHz/1Vrms条件下对高达30μF的MLCC进行测试，100Hz测量可对300μF电容器提供恒定的1Vrms测试信号。
强大的变压器测试能力
■TH2825A具备变压器测试能力，使用专门的变压器测试夹具，无须改变测试线方式便可方便地测量匝数比（N，1/N）、互感（M）、初次级电感（LA、LB），初次级直流电阻（DCR2）。有-5V-5V偏置电压（仅TH2825A），可方便地用于通讯变压器和小功率扼流圈的测试。
■该产品提供的HANDLER、GPIB接口及GPIB接口命令与Agilent
与知名仪表的接口兼容性
技术参数
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型号
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TH2825A
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显示器
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240x64点阵LCD显示器，5位读数分辨率
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测试参数
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LCR参数
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|Z|,R,X,G,B,C,L,Q,D,θ(deg),θ(rad),DCR
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变压器参数
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DCR，DCR2，M,N，1/N，LA，LB
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测试频率
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50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz,共10点
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测试电平
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10mVrms-1.0Vrms,1mV步进＜200mV10mV步进≥200mV
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信号源内阻
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25Ω，100Ω，25Ω/100Ω，C.V.（恒压）
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DC偏置电流（≥1kHz）
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当100Ω内阻时，±50mAMax当25Ω内阻时，±200mAMax
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基本测量准确度
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0.1%
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|Z|,R,X
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0.01mΩ—99.99MΩ
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G,B
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0.0001μS—999.99S
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C
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0.001pF—1.9999F
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L
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0.001μH—99.9999kH
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Q
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0.0001—9999
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显示范围
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D
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0.0001—9999
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θ(DEG)
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-180.00°—180.00°
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θ(RAD)
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-3.1415—3.1415
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Δ%
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-999.99%—999.99%
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TurnsRatio
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0.001—9999.9
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DCR
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0.1mΩ—99.99MΩ
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M,L2
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0.001μH—99.99kH
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测量速度（≥100Hz）
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快速:15ms（注1）,中速:66ms,慢速:500ms
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等效电路
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串联,并联
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量程方式
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自动,保持/手动切换
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触发方式
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内部,手动,外部，总线
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平均次数
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1—255
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校准功能
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开路,短路,负载校正
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测量端
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5端
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显示方式
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直读,ΔABS,Δ%,V/I(电压/电流监示),档号及档计数
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列表扫描
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4点频率,电平列表扫描测试
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比较器功能
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九档（八档合格，一档不合格）
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上超/合格/下超比较器
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存储器
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12组内部仪器设定供存储/调用
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接口
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RS-232C,HANDLER,GPIB(选件)
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4263B完全兼容，为与4263B的互换提供了良好的条件。
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注1：快速测试时间包括A/D、计算、主/副参数小字符显示比较判别。若包括测试参数大字符显示，*快测试时间另加5ms。
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