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日本J-RAS离子迁移试验装置的原理及方法介绍

日本J-RAS离子迁移试验装置可对离子迁移绝缘电阻值进行高精度、高信赖性、高效率的评价。

从当今的地球、市场环境来看，省能源、铅/无卤素、小型轻量、低价、高依赖等观点出来的，新素材、新实装方法的研究开发、评价方法的重估是必须的。

离子迁移实验装置是一种依赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（BIAS VOLTAGE），经过长时间的测试（1~1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ION MIGRATION），并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

日本J-RAS离子迁移试验装置离子质谱方法

一种产生离子质谱信息的方法，包括下列步骤：产生气态离子团；沿**轴及时分离气态离子团，形成多个离子组，各离子组具有与其相关的单一离子迁移率；沿垂直于**轴的**轴顺序地及时分离至少一些离子组，形成多个离子小组，各离子小组具有与其相关的单一离子质量；和处理至少一些离子小组，由此确定质量的特定信息。

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