晶圆检测显微镜（成像分析）52XA-1200M成都西野

日期：2024-12-23 10:14

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摘要：晶圆检测显微镜（成像分析）52XA-1200M成都西野一、产品介绍：晶圆检测显微镜52XA-1200M采用了当今*为先进的光学显微镜与现代成像分析融为一体的图像测量技术，主要用于光伏行业太阳能电池硅片、LED芯片、IC芯片、半导体晶圆、液晶板、ITO导电玻璃、印刷线路板等结构或表面缺陷检测，系统配置了三目大工作台正置金相显微镜52XA、1200万高清晰数字摄像头及图像测量管理软件，可对硅片芯片图像进行拍照、测量、编辑和保存输出等多种操作。晶圆检测显微镜52XA采用上等的光路系统，配置了落射与...

晶圆检测显微镜（成像分析）52XA-1200M成都西野

一、产品介绍：

晶圆检测显微镜52XA-1200M采用了当今*为先进的光学显微镜与现代成像分析融为一体的图像测量技术，主要用于光伏行业太阳能电池硅片、LED芯片、IC芯片、半导体晶圆、液晶板、ITO导电玻璃、印刷线路板等结构或表面缺陷检测，系统配置了三目大工作台正置金相显微镜52XA、1200万高清晰数字摄像头及图像测量管理软件，可对硅片芯片图像进行拍照、测量、编辑和保存输出等多种操作。
晶圆检测显微镜52XA采用上等的光路系统，配置了落射与透射照明系统、长距平场消色差物镜、内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点。
二、系统配置：

序号	配置名称	主要规格参数
1	三目正置金相显微镜52XA	50-800X
2	1200万高清晰数字摄像头	1200万像素，图像测量软件
3	摄像接口MCL	1X或者0.5X
4	标尺	0.01mm

三、显微镜技术参数：

序号	名称	技术参数
01	平场目镜	大视野 WF10X(Φ18mm)
02	长距平场物镜	PLL5X/0.12、10X/0.25、20X/0.40、40X/0.60、80X/0.80
03	总放大倍数	50X-800X
04	观察头	三目镜,倾斜30˚,(内置检偏振片,可进行切换)
05	转换器	五孔 (外向式滚珠内定位)
06	调焦范围	粗微动同轴, 微动格值0.7μm, 粗动松紧可调,带锁紧和限位装置
07	载物台	三层机械移动式尺寸: 280mmX270mm,移动范围: 204mmX204mm
08	光瞳距离	53-75mm
09	滤色片	蓝、磨砂
10	落射照明系统	6V 20W卤素灯,亮度可调
10	落射照明系统	带视场光栏、孔径光栏、起偏振片,(黄,蓝,绿)滤色片和磨砂玻璃
11	仪器重量	净重11.0公斤毛重12.5公斤
12	仪器尺寸	仪器尺寸42X45X45（cm）包装尺寸45X50X50(cm)

晶圆检测显微镜（成像分析）52XA-1200M成都西野

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