企业信息
第9年
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产品详情
简单介绍：
日本王子OSI细微异物测量装置（杂点测量装置）DIP-2000
细微异物测量装置，DIP-2000，测量到0.5μm的细微异物。专用viewer根据图像对比的数据，一边确认使用。oji-keisoku，陕西西安，四川成都，贵州贵阳，云南昆明，重庆
日本王子OSI细微异物测量装置（杂点测量装置）DIP-2000
详情介绍：
日本王子OSI细微异物测量装置（杂点测量装置）DIP-2000
细微异物测量装置，DIP-2000，测量到0.5μm的细微异物。
专用viewer根据图像对比的数据，一边确认使用
0.5μmまでの微細異物計測
オートフォーカス装置による鮮明な画像
ジョイスティック付き自動XYステージにより操作性向上
色付き粒子の測定も可能
粒径、面積、形状ほか51種類の測定項目
専用ビューアにより画像と対比しながらデータ確認が可能
| 画像処理部： |
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| 入力装置： |
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| 光学系： |
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| X-Yステージ： |
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| AF装置： |
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